Mikroskoopide kondensaatori tõstemehhanismi tõrkeotsing
Aatomjõumikroskoobi põhiprintsiip on järgmine: nõrkade jõudude suhtes ülitundliku mikrokonsooli üks ots on fikseeritud ja teise otsa on paigaldatud pisike sondi ots. Ots puudutab õrnalt proovi pinda. Äärmiselt nõrga tõukejõu tõttu sondi otsal olevate aatomite ja proovi pinnal olevate aatomite vahel, hoides seda jõudu skaneerimise ajal konstantsena, liigub otsaga mikrokonsool proovi pinnaga risti üles ja alla, järgides potentsiaalivõrdlustuspinda, mis on määratletud otsa ja proovipinna aatomite vastastikuse jõuga. Optilise tuvastamise või tunnelvoolu tuvastamise meetodite abil saab mõõta mikrokonsooli asendimuutust igas skaneerimispunktis, nii et on võimalik saada teavet proovi pinna topograafia kohta. Järgnevalt käsitleme selle tööpõhimõtte täpsustamiseks aatomjõu mikroskoopi, mis kasutab jõu tuvastamiseks laserkiire läbipainde (Laser-AFM), mis on skaneeriva sondi mikroskoobi perekonna tavaliselt kasutatav liige.
Kogu süsteemi pildistamis- ja tuvastamisprotsessi vältel hoitakse sondi ja testitava proovi vaheline kaugus nanomeetri skaalal (10--- m). Kui kaugus on liiga suur, ei saa proovi pinnainfot hankida; kui vahemaa on liiga väike, saavad nii sond kui ka uuritav proov kahjustatud. Tagasiside ahel toimib järgmiselt: töö ajal võtab see sondilt vastu sondi ja proovi interaktsioonijõu suuruse ja reguleerib prooviskanneri vertikaalteljele rakendatavat pinget. See sunnib proovi pikendama või tagasi tõmbuma, reguleerides seeläbi sondi ja proovi eraldumist ning omakorda stabiliseerides sondi ja proovi interaktsioonijõu suurust, et saavutada tagasiside juhtimine. Seetõttu on tagasiside juhtimine selle süsteemi põhiline töömehhanism.
See süsteem kasutab digitaalse tagasiside juhtimisahelat. Kasutajad saavad juhtida tagasisideahela omadusi, seadistades juhttarkvara parameetrite tööriistaribal parameetreid, sealhulgas võrdlusvoolu, integraalse võimenduse ja proportsionaalse võimenduse.
