Ettevaatusabinõud infrapuna termomeetri jaoks seadmete rikete diagnoosimisel
Atmosfääri nõrgenemise mõju: testitava elektriseadme pinnal olev infrapunakiirguse energia edastatakse läbi atmosfääri infrapunatuvastusseadmesse, mida mõjutab veeauru, süsinikdioksiidi, süsinikmonooksiidi ja muude gaasimolekulide neeldumine. atmosfääri kombinatsioonis ja hõljuvate osakeste hajumise sumbumine õhus . Seadme kiirgusenergia ülekande sumbumine vähendab testitava seadme kiirguse läbilaskvust testitava seadme ja testitava seadme vahelise kaugusega, mistõttu sumbumine kauguse suurenedes suureneb. Kiirguskontrasti vähendamine testitava seadme vigase osa ja normaalse osa vahel vähendab ka infrapunaseadme poolt vastuvõetavat sihtenergiat, muutes seadme kuvatava temperatuuri madalamaks kui testitava vigase punkti tegelik temperatuuriväärtus, mille tulemuseks on vastamata avastamine või vale diagnoos. Eriti seadmete rikete tuvastamiseks madala temperatuuri tõusuga. Avastamiskauguse suurenedes muutub atmosfääri kombinatsiooni mõju üha suuremaks. Sel viisil on sihttemperatuuri täpsuse saavutamiseks vaja tuvastamiseks valida aastaaeg, mil ümbritsev atmosfäär on suhteliselt kuiv ja puhas; vähendada avastamiskaugust nii palju kui võimalik ilma seda mõjutamata ja teha temperatuuri mõõtmistulemustes mõistlik vahemaaparandus, et mõõta tegelikku temperatuuri väärtust.
Meteoroloogiliste tingimuste mõju: Karmid ilmastikutingimused (vihm, lumi, udu ja tugev tuul jne) avaldavad negatiivset mõju seadmete temperatuurituvastusele ja põhjustavad sageli valehäireid. Meteoroloogiliste tingimuste mõju vähendamiseks proovige tuvastada öösel, kui pole vihma, udu, tuult ja ümbritseva õhu temperatuur on suhteliselt stabiilne.
Keskkonna- ja taustkiirguse mõju: Välisjõuseadmete infrapunatuvastuse teostamisel ei hõlma tuvastusseadme poolt vastuvõetav infrapunakiirgus mitte ainult testitava seadme vastava osa enda poolt kiiratavat kiirgust, vaid ka peegeldust seadme muudelt osadelt. ja taust, samuti otsene kiirgus. Päikese kiirgus. Need kiirgused häirivad testitava seadme osa temperatuuri ja põhjustavad vigu rikete tuvastamisel. Keskkonna ja taustkiirguse mõju vähendamiseks on väliselektriseadmete kohapealse infrapunakontrolli läbiviimisel kõige parem valida pilvised päevad või päikeseloojangud ja õhtud, mil valgust ei ole. See võib vältida otsest langevat, peegeldunud ja hajutatud päikesekiirgust; siseseadmete puhul saab seda kasutada valgustuse väljalülitamiseks ja muu kiirguse mõju vältimiseks. Tugevalt peegeldavate seadmepindade puhul tuleks võtta asjakohaseid meetmeid, et vähendada mõju päikesekiirgusele ja ümbritsevate kõrge temperatuuriga objektide kiirgusele või muuta tuvastusnurka, et leida parim nurk, mis võimaldab tuvastamisel peegeldust vältida. Päikesekiirguse ja ümbritseva kõrge temperatuuriga fooni kiirguse mõju vähendamiseks tuleks tuvastamise ajal võtta asjakohaseid varjestusmeetmeid või paigaldada infrapuna mõõtevahendile vastav infrapunafilter, mis filtreerib välja päikese ja muu taustkiirguse. . Valige tuvastamiseks sobivate parameetrite ja tuvastuskaugusega instrument nii, et testitav seadme osa jääks instrumendi vaatevälja, vähendades seeläbi taustkiirguse häireid.
