Milliseid vigu tuleks mikroskoopide kasutamisel vältida?
Lugemismikroskoobi kasutamisel tuleb jälgida, et lugemisel ei tekiks suuri inimlikke vigu, mis võivad kergesti põhjustada visuaalseid vigu.
1. Parallaks: Optilise mõõteriista parallaks on tingitud asjaolust, et mõõdetava objekti kujutis ei asu mõõtmise joonlauaga samas tasapinnas, seega tekib vaatleja silmade liikumisel suhteline nihe. pilt ja joonlaud.
Lugemismikroskoop koosneb okulaarist ja objektiivist. Märgistusjoon asub okulaari ja objektiivi vahel. Parallaksi kõrvaldamiseks tuleks esmalt reguleerida okulaari, et ristikujuline kujutis oleks selge, ja seejärel tõste nuppu, et mõõdetava objekti kujutis oleks selge. Liigutage silmi , kui mõõdetud objekti kujutise ja ristkujutise vahel pole suhtelist nihet, tähendab see, et need asuvad samal pildistamistasandil.
2. Sammuviga: Kuna iga spiraalse mõõteseadme sisekeerme ja väliskeere vahel peab olema vahe, peavad erinevatele pöörlemissuundadele vastavad näidud olema erinevad. Seda erinevust nimetatakse kõrguse veaks. Seetõttu tuleks pikkuse mõõtmiseks lugemismikroskoobi kasutamisel liigutada sihikut samas suunas, joondada mõõdetava objekti mõlema otsaga ja mitte liikuda keskelt tahapoole, et vältida helikõrguse viga.
