Sissejuhatus multimeetri tuvastamismeetoditesse
1. Vooluahela alalisvoolu takistuse tuvastamise meetod
See on meetod multimeetri oomiploki kasutamiseks, et mõõta otse IC-i ja trükkplaadi väliskomponentide iga viigu päri- ja tagurpidi alalisvoolu takistuse väärtusi ning võrrelda seda tavaliste andmetega, et leida ja määrata rike. Mõõtmisel pöörake tähelepanu järgmisele kolmele punktile:
(1) Enne mõõtmist ühendage toiteallikas lahti, et vältida arvesti ja komponentide kahjustamist testimise ajal.
(2) Multimeetri elektritõkke sisepinge ei tohi olla suurem kui 6V. Mõõtevahemiku jaoks on kõige parem kasutada vahemikku R×100 või R×1k.
(3) IC-tihvti parameetrite mõõtmisel pöörake tähelepanu mõõtmistingimustele, nagu testitav mudel, IC-ga seotud potentsiomeetri liugõla asend jne, ning arvestage ka välisahela komponentide kvaliteeti. .
2. Alalisvoolu tööpinge mõõtmise meetod
See on meetod alalisvoolu toitepinge ja välisseadmete tööpinge mõõtmiseks multimeetri alalispingeplokiga, kui toide on sisse lülitatud; IC iga viigu alalispinge väärtuse tuvastamine maandusega ja selle võrdlemine normaalväärtusega, vähendades seeläbi tõrkevahemikku. Leidke kahjustatud komponent. Mõõtmisel pöörake tähelepanu järgmisele kaheksale punktile:
(1) Multimeetril peab olema piisavalt suur sisetakistus, mis on vähemalt 10 korda suurem mõõdetava vooluahela takistusest, et vältida suurte mõõtmisvigade tekitamist.
2) Tavaliselt keerake iga potentsiomeeter keskmisesse asendisse. Kui tegemist on teleriga, peaks signaaliallikas kasutama standardset värviriba signaaligeneraatorit.
(3) Mõõtejuhtmete või sondide puhul tuleks võtta libisemisvastaseid meetmeid. Iga hetkeline lühis võib IC-d kergesti kahjustada. Testpliiatsi libisemise vältimiseks saab kasutada järgmist meetodit: võtke tükk jalgratta klapi südamikku ja asetage see testpliiatsi otsale ning pikendage testpliiatsi otsa umbes 0,5 mm võrra. Nii ei saa testpliiatsi ots mitte ainult testitava punktiga hästi kokku puutuda, vaid takistab ka tõhusalt libisemist. , ei teki lühist isegi siis, kui see tabab naaberpunkte.
(4) Kui teatud viigu mõõdetud pinge ei vasta normaalväärtusele, tuleks IC kvaliteeti hinnata, analüüsides, kas kontakti pingel on oluline mõju IC normaalsele tööle ja vastavatele pinge muutustele. teistest tihvtidest.
(5) Väliskomponendid mõjutavad IC pin pinget. Kui väliskomponendid lekivad, lühis, katkestus või väärtus muutub või välisahel on ühendatud muutuva takistusega potentsiomeetriga, muutub kontakti pinge potentsiomeetri liughoova erinevate asendite tõttu.
(6) Kui IC iga viigu pinge on normaalne, loetakse IC üldiselt normaalseks; kui IC mõne kontakti pinge on ebanormaalne, siis tuleks alustada sellest punktist, mis normaalväärtusest kõige rohkem kõrvale kaldub ja kontrollida, kas väliskomponendid on vigased. Kui viga pole, on IC tõenäoliselt kahjustatud. .
(7) Dünaamiliste vastuvõtuseadmete, näiteks telerite puhul on IC iga viigu pinged erinevad, olenemata sellest, kas signaal on või mitte. Kui leitakse, et viigu pinge ei tohiks muutuda, vaid muutub suuresti ning kontakti pinge, mis peaks muutuma koos signaali suuruse ja reguleeritava komponendi asendiga, ei muutu, saab tuvastada, et IC on kahjustatud.
(8) Mitme töörežiimiga seadmete (nt videomagnetofonid) puhul on IC iga viigu pinged erinevates töörežiimides samuti erinevad.
3. Vahelduvvoolu tööpinge mõõtmise meetod
IC vahelduvvoolu signaali muutuste mõistmiseks saate IC vahelduvvoolu tööpinge ligikaudseks mõõtmiseks kasutada dB-pistikuga multimeetrit. Katsetamisel asetage multimeeter vahelduvpinge seadistusse ja sisestage positiivne testjuhe dB pistikupessa; ilma dB-pistikuta multimeetri puhul tuleb positiivse testjuhtmega järjestikku ühendada {{0}},1–0,5 μF alalisvoolu blokeeriv kondensaator. See meetod sobib suhteliselt madalate töösagedustega IC-dele, nagu näiteks TV-video võimendusastmed ja väljaskaneerimise ahelad. Kuna neil vooluahelatel on erinevad omasagedused ja erinevad lainekujud, on mõõdetud andmed ligikaudsed ja neid saab kasutada ainult võrdluseks.
4. koguvoolu mõõtmise meetod
See meetod on meetod IC kvaliteedi hindamiseks, tuvastades IC toiteliini koguvoolu. Kuna suurem osa IC sisemistest osadest on otse ühendatud, põhjustab see IC kahjustatud (nt teatud PN-siirde rike või lahtine vooluring) korral järgmise etapi küllastumist ja katkemist, põhjustades koguvoolu muutumise. . Seetõttu saab IC kvaliteeti hinnata koguvoolu mõõtmise teel. Samuti saate mõõta takisti pingelangust vooluteel ja kasutada Ohmi seadust voolu koguväärtuse arvutamiseks.
