Polariseeriva mikroskoobi tutvustus ja ettevaatusabinõud
Valgusmikroskoobi rakendus: Polariseeriv mikroskoop on mikroskoop, mida kasutatakse nn läbipaistvate ja läbipaistmatute anisotroopsete materjalide uurimiseks, vaadeldes kaksikmurdusega aineid. Polariseeriva mikroskoobi põhiprintsiip: Polarisatsioonimikroskoobil peavad olema järgmised tarvikud: polariseeriv peegel, polariseeriv peegel, kompensaator või faasiplaat, spetsiaalne pingevaba objektiiv ja pöörlev staadium.
Polariseeriva mikroskoobi tunnuseks on tavavalguse muutmise meetod mikroskoopiliseks uurimiseks polariseeritud valguseks, et teha kindlaks, kas aine on üksikult murduv (isotroopne) või kaksikmurdev (anisotroopne). Kahekordne murdumine on kristallide põhiomadus. Seetõttu kasutatakse polariseerivat mikroskoopiat laialdaselt sellistes valdkondades nagu mineraalid ja keemia, samuti bioloogias, botaanikas ja vedelkristalliuuringutes.
Polariseeriva mikroskoopia meetod:
1) Tavafaasi peegli kontroll: tuntud ka kui moonutusteta peeglikontroll, seda iseloomustab väikese võimsusega objektiivläätsede kasutamine ilma Bertrandi objektiivi kasutamata ja objekti saab polariseeritud valgusega otse uurida. Samal ajal lükake valgustusava vähendamiseks lahti kondensaatori ülemine lääts. Objektide kaksikmurdumise kontrollimiseks kasutatakse normaalfaasi mikroskoopiat.
2) Konoskoop, tuntud ka kui interferomeetria, uurib polariseeritud valguse interferentsi ajal tekkivat interferentsimustrit. Seda meetodit kasutatakse objekti ühe- või kaheteljelise olemuse jälgimiseks. Selle meetodi puhul kasutatakse valgustamiseks tugevaid koonduvaid polariseeritud kiirteid.
Nõuded seadme polariseerivale mikroskoobile:
1) Valgusallikas: parem on kasutada monokromaatilist kiirgust, kuna valguse kiirus, murdumisnäitaja ja interferentsi nähtus on erinevate lainepikkuste tõttu erinevad. Üldmikroskoopias saab kasutada tavalist valgust.
2) Okulaar: okulaari ristlõikega.
3) Bertrandi lääts: abikomponent kondensaatori optilisel teel, mis võimendab kõik objekti poolt põhjustatud primaarfaasid sekundaarseteks faasideks. See tagab okulaari kasutamise objektiivi taga asuvas fookustasandis tekkiva interferentsi mustri jälgimiseks.
Ettevaatusabinõud Leica mikroskoobi kasutamisel: Süsteemi tööea ja töökindluse tagamiseks tuleb järgida järgmisi ettevaatusabinõusid.
1) Laboris peaks olema kolm kaitsetingimust: põrutuskindel (maavärina allikast eemal), niiskuskindel (kasutades kliimaseadet ja kuivateid) ja tolmukindel (põrand maapinnale); Toide: 220 V pluss -10 protsenti, 50 HZ temperatuur: 0-40 kraadi
2) Fokuseerimisel olge ettevaatlik, et objektiiv ei puutuks prooviga kokku, et vältida objektiivi kriimustamist.
3) Ärge vahetage objektiivi, kui aluse ümmarguse ava keskpunkt on objektiivi läätse keskkoha lähedal, et vältida objektiivi kriimustamist.
4) Heleduse reguleerimine ei tohiks olla liiga kõrge ega liiga madal, kuna see võib mõjutada lambipirni eluiga ja kahjustada ka nägemist.
5) Kõik (funktsiooni) lülitid peaksid olema kerged ja paigas.
6) Väljalülitamisel keera heledus minimaalseks.
