Kuidas mõõta multimeetri abil mälukiipe
Emaplaadil ja mälul on 64 andmepistikut, D0-D63, Mälu andmebittide viigude kaitsmiseks lisatakse voolu piiramiseks kõigile 64 andmebiti viigule D0-D63 erineva takistuse väärtusega takisti (10 oomi). Testeri põhiprintsiip on korduvalt testida programmi abil mälukiibi iga andmebiti viiku, et näha, kas andmebiti viigud on katki või lühises, samuti kiibi kella ja aadressi viik.
Nii et kiipide testimisel multimeetriga saab kasutada ka testeri meetodit. Kuni punane pliiats on ühendatud maandusega (kontakt 1) ja must pliiats mõõdab tühjendustakisti takistust, mis on mälukiibi andmebiti takistus, saab selle abil määrata, milline kiip on katki. Tavaliselt on iga andmebiti takistus sama. Kuid see pole ikka veel nii intuitiivne kui tester, mis suudab selle meetodi abil mõõta DDR-mälukiipide kvaliteeti.
Kasutusjuhendi järgi on mõõdetud mälu 2A ja 2B, mis viitab ühe- ja topeltrühmale. Kuid on olemas 8 16 bitikiipe, mis võrdub kahe rühmaga, ja 16 8-bitikiipe, mis võrdub kahe rühmaga.
2A on rühm 1, 2B on rühm 2.
Mõõtmise ajal testitakse tsükliliselt iga rühma iga kiibi andmebittide kontakte. Üldiselt, kui see pärast 3-5 testi ei purune, on see hea. Hea kiip on PASS. Vigane kiip kuvab vigaseid andmebittide kontakte.
1. Ei saa käivitamise ajal testile hüpata, tavaliselt kiibi või PCB plaadi lühise tõttu. Lahendus on eemaldada kiip ja asendada see hea PCB plaadiga, et testida kiibi kvaliteeti ja näha, milles probleem.
2. Mälu tester ei testi SPD kiipe, SPD kiibid on valikulised
3. Kui kuldne sõrm põleb, ei saa seda testida. Kiip tuleb selle kvaliteedi kontrollimiseks eemaldada ja heale PCB-plaadile asetada
