Kuidas arvutada mikroskoobi kogusuurendust?
Võib-olla võivad mõned inimesed öelda, et see pole väga lihtne probleem, kuid tegelikult on see siiski pisut keeruline.
Esiteks toome näite: kui stereomikroskoobi okulaari suurendus on 10 korda, muutuva suurendusega korpuse suumiulatus on 0,7X-4,5X ja lisaobjektiivil 2X, siis selle optiline suurendus on 10 korda 0,7 korda 2. Selle mikroskoobi minimaalne suurendus on 14 korda 5 korda ja 0,1 4 korda. 2, mis võrdub 90-ga. Seetõttu on selle stereomikroskoobi optiline kogusuurendus 14-90 korda. Loomulikult on see ainult mikroskoobi suurarvuti tegelik suurendus. Järgmine on mikroskoobi digitaalne suurendus.
Näiteks kui monitori suurus on 17 tolli ja kasutatakse 1/3 mikroskoobikaamerat, on allolevas tabelis näidatud mikroskoobikaamera digitaalne suurendus 72-kordne. Mikroskoobi digitaalse suurenduse arvutamise valem on järgmine: ülaltoodud stereomikroskoobi konfiguratsiooni alusel on muutuv suurendus 0,7X-4,5X, lisaobjektiiv on 2X ja kaamera okulaaril 1 (kui kaamera okulaaril ei ole suurendust, ei pea seda arvutusse kaasama). Valemi järgi: objektiiv X kaamera okulaari suurendus X digitaalne suurendus, minimaalne digitaalne suurendus on 0,7 korda 2 korda 1 korda 72, mis võrdub 100,8 korda ja maksimaalne digitaalne suurendus on 4,5 korda 2 korda 1 korda 72, mis võrdub 648 korda Digitaalse suurenduse vahemik on 100,8 korda kuni 64 korda.
Sel juhul kuvatakse kaks valemit:
1. Optiline kogusuurendus=okulaari suurendus X objektiivi suurendus
2. Digitaalne täissuurendus=objektiiv X kaamera okulaari suurendus X digitaalne suurendus
See valem sobib igale mikroskoobile, olgu selleks metallograafiline mikroskoop, bioloogiline mikroskoop vms.
Sissejuhatus Pekingi kiibitõrgete analüüsi laborisse
IC rikete analüüsi labor
Beiruan Testing Intelligent Product Testing Laboratory võeti kasutusele 2015. aasta lõpus ja on võimeline läbi viima testimist vastavalt rahvusvahelistele, kodumaistele ja tööstusstandarditele. See teostab kõikehõlmavat testimist alates aluseks olevatest kiipidest kuni tegelike toodeteni, füüsikast kuni loogikani. See pakub turvatestiteenuseid, nagu kiibi eeltöötlus, külgkanalite rünnakud, optilised rünnakud, invasiivsed rünnakud, keskkond, pinge hüpperünnakud, elektromagnetiline süstimine, kiirguse süstimine, füüsiline turvalisus, loogikaturve, funktsionaalsus, ühilduvus ja mitmepunktiline lasersüst. Samal ajal võib see simuleerida ja reprodutseerida intelligentse toote rikke nähtust, tuvastada rikke põhjust ning pakkuda rikete analüüsi- ja testimisteenuseid, sealhulgas peamiselt sondijaama, reaktiivioonide söövitamist (RIE), mikrolekke tuvastamise süsteemi (EMMI), röntgenikiirguse testimist ja defektide lõikamise vaatlussüsteemi (FIB). Süsteemi testimine ja muud kontrollikatsed. Teostage intelligentsete toodete kvaliteedi hindamine ja analüüs, tagades intelligentsete seadmete toodete kiipide, manustatud tarkvara ja rakenduste kvaliteedi.
