Metallograafiliste mikroskoopide kasutamine erinevates tööstusharudes
Metallograafilised mikroskoobid pärinevad metallograafiast. Need on professionaalsed instrumendid, mida kasutatakse peamiselt metallograafiliste struktuuride vaatlemiseks, eriti läbipaistmatute objektide, näiteks metallide ja mineraalide metallograafilise mikrostruktuuri uurimiseks. Neid läbipaistmatuid proove ei saa tavaliste läbilaskva valgusmikroskoobidega jälgida. Seetõttu on metallograafiliste mikroskoopide ja tavaliste mikroskoopide peamine erinevus see, et esimene kasutab peegeldunud valguse valgustust, teine toetub läbiva valgusega.
Metallograafilistel mikroskoopidel on suurepärane stabiilsus, terav kujutis, kõrge eraldusvõime ja suur tasane vaateväli. Vaatlusi saab teha mitte ainult läbi okulaari, vaid ka reaalajas dünaamiliste kujutistena arvuti või digikaamera ekraanil. Pildistatud pilte saab redigeerida, salvestada ja printida. Neid kasutatakse laialdaselt riistvaras, metallograafilises sektsioonis, IC-komponentides, LCD-s, LED-is ja muudes valdkondades.
Metallograafiliste mikroskoopide jaoks on viit tüüpi objektiive: EPI ereda väljaga fluorestsentsobjektiivid, BD heleda/tumevälja objektiivid, SLWD ülipika töökaugusega objektiivid, ELWD pikendatud pika töökaugusega objektiivid ja korrektsioonirõngastega objektiivid. Riistvaratööstuses saab tugevalt peegeldavate riistvaraosade vaatlemiseks valida BD heleda/tumevälja objektiivid. Näiteks LCD-tööstuses juhtivate osakeste vaatlemisel ja mõõtmisel võib metallograafilise mikroskoobi varustada DIC-ga, et saada stereoskoopilisemaid vaateid. See on polariseeritud valguse mikroskoopia meetod, mis kasutab paarisfiltreid. See suunab valguse tee ümber vastavalt kaksikmurdumisomadustele. Pange tähele, et polariseeritud valgus on tavaliselt funktsionaalne ainult siis, kui see on kombineeritud DIC-ga, ja selle väärtus on piiratud, kui seda kasutatakse eraldi.
Kui metallograafilisi mikroskoope kasutatakse IC-komponentide ja metallograafiliste sektsioonide väikeste omaduste mõõtmiseks ja analüüsimiseks, saab kasutusele võtta intelligentse mõõtmistarkvara Iview-DIMS. See tagab suure täpsuse ja vähendab tõhusalt käsitsi mõõtmise vigu. Tarkvara on kasutajasõbralik ja toetab punktide, joonte, kaare, raadiuste, läbimõõtude, nurkade ja muude geomeetriliste mõõtmete mõõtmist ja analüüsi. Samuti saab see jäädvustada mõõtmispilte ja koostada kohandatud testiaruandeid.
