Erinevus metallograafilise mikroskoobi ja stereomikroskoobi vahel
Helikaardiriiul ja suum organisatsioon
1. metallograafilise mikroskoobi helikaardi raam on tavaliselt väga suur, kuid kuna metallograafilisi mikroskoope kasutatakse suure suurenduse testimiseks, mahutavad need üldiselt väikeste suurustega proove. Üldiselt nõutakse proovi pind suhteliselt tasane ja proov tuleb valmistada, poleeritud, poleeritud ja söövitatud. Lisaks ümberpööratud metallograafilistele mikroskoopidele, kuigi proovid tuleb ka valmistada, pole proovi suurusele peaaegu mingeid piiranguid. Hea ümberpööratud metallograafiline mikroskoop mahutab rohkem kui 10 kg proove. Lisaks kasutatakse nurga mõõtmisinstrumendi reguleerimiseks püstise metallograafilise mikroskoobi suumistruktuuri (on ka mõned püstised optilised mikroskoobid ja mõõtmismikroskoobid, mis kasutavad objektiivse objektiivi reguleerimiseks unikaalseid tarvikuid) ning objektiivse läätse reguleerimiseks kasutatakse ümberpööratud metallograafilist suumi struktuuri.
2. stereomikroskoobi helikaardiregiidi spetsifikatsioonid on üldiselt väikesed, kuid kui neid liigutatakse suure mahutavusega kooskõlastamiseks, saavad nad kontrollida erineva suurusega proove, sealhulgas tooteid, mida kontrollitakse kohe tootmisliinil. Seetõttu on neil proovide jaoks väga madalad nõuded ja nad ei vaja proovide ettevalmistamist. Proovi valmistamiseks on vaja ainult umbes lamedat pinda. Tagarvaatepeegli suhteliselt kerge kaalu tõttu hõlmab stereomikroskoobi suumimismeetod üldiselt kõigi optiliste tee serverite reguleerimist.
Suurendada suurendust
1. metallograafilise mikroskoobi objektiivi suurendus on üle 1,25 ja alla 100 korda, samas kui okulaari läätse suurenemine on vahemikus 10x kuni 20x. Seetõttu on metallograafilise mikroskoobi kogu suurendus vahemikus 12,5x kuni 2000 korda.
2. stereomikroskoopide suurenduskiirus on üsna suur. Kui see on üldtuvastuse stereomikroskoop, on suurendus üldiselt vahemikus 0. 5 kuni 100 korda. Kui see on teadusliku uurimistöö optiline mikroskoop, parandades samal ajal elektronide optilist kvaliteeti, suureneb suurendus suurendamine ka umbes 200–400 korda.
Valgustusraja süsteemi tarkvara
1. Metallograafilised mikroskoobid kasutavad üldiselt professionaalset murdunud valguse valgustusrada (kuna vaadeldav proov ei ole täielikult läbipaistev) ja valgustustuli suunatakse läbi poolpeegeldava kahe läätse, et valgustada proovi pinda objektiivi kaudu. Pärast seda, kui peegelduspind koju naaseb, läbib see objektiivi okulaari ja siseneb seejärel inimsilma kolmemõõtmelise pildistamise jaoks. Seetõttu asendab objektiiv DiUMU valgustussüsteemi tarkvaras tähelepanu keskpunkti funktsiooni. Põhiprintsiibi seisukohast kuulub seda tüüpi valgustus koaksiaalvalgustusesse, kus nii valgustav valgust kui ka murdunud valgus asuvad samal peamisel optilisel teel.
2. stereoskoopilised mikroskoobid kasutavad üldiselt väliseid valgusallikaid, näiteks halogeeni esituled küljelt hajutatud valgustuse ja ümmarguste LED -tulede jaoks valgustamiseks. Need valgustusmeetodid ei ole aga koaksiaalvalgustus. Nende valgustusvalgus on küljele hajutatud ja sellel on peamise optilise teljega teatud nurk. Põhipõhimõte on mõnevõrra sarnane metallograafiliste mikroskoopide tumeda välja valgustamisega. Lisaks on mõnel stereomikroskoopil ka koaksiaalvalgustusallikad, kuid tahavaatepeeglite koaksiaalvalgustusel on teatud piirangud. Kui kujundusskeem pole mõistlik, põhjustab see pimestamist, mis tuleb eemaldada, lisades ainulaadsed tarvikud või prilliläätsed
