Erinevused püstise ja pööratud metallograafilise mikroskoobi kasutamises
Erinevus püstise ja ümberpööratud vahel seisneb lihtsalt selles, et püstine proov asetatakse alla ja tagurpidi proov asetatakse üles. Püstine objektiiv on suunatud allapoole ja ümberpööratud objektiiv on suunatud ülespoole.
Pööratud metallograafiline mikroskoop, kuna proovi vaatluspind langeb kokku töölaua pinnaga ja vaatlusobjekt asub ülespoole vaatlemiseks töölaua all, ei ole see vaatlusvorm proovi kõrgusega piiratud. Proovi ettevalmistamisel on ainult üks vaatluspind tasane, mistõttu kasutatakse seda tavaliselt tehaselaborites, teadusasutustes ja ülikoolides õppetööks. Pööratud metallograafilise mikroskoobi alusel on suur tugipind, madal raskuskese ning see on stabiilne ja töökindel. Okulaar ja tugipind on 45 kraadi kallutatud, mis teeb jälgimise mugavaks.
Püstisel metallograafilisel mikroskoobil on samad põhifunktsioonid kui pöördmetallograafilisel mikroskoobil. Lisaks 20-30 mm kõrguste metalliproovide analüüsimisele ja tuvastamisele kasutatakse seda laiemalt läbipaistvates, poolläbipaistvates või läbipaistmatutes materjalides, kuna see vastab inimeste igapäevastele harjumustele. Püstine metallograafiline mikroskoop moodustab vaatlemisel positiivse pildi, mis toob kasutaja jälgimisse ja diskrimineerimisesse suure mugavuse. Lisaks 20-30 mm kõrguste metalliproovide analüüsimisele ja tuvastamisele on vaatlusobjektid, mis on suuremad kui 3 mikronit, kuid väiksemad kui 20 mikronit, nagu pinna struktuur ja materjalide jäljed, nagu metallkeraamika, elektroonilised kiibid, trükiskeemid, LCD-substraadid, õhukesed kiled, kiud, granuleeritud esemed, katted jne võivad omada häid pildiefekte.
