Miks, hinnates kristalltrioodi elektroode, ei saa seda mõõta läbi elektriliste barjääride nagu osuti analoogmultimeeter?
Kuna erinevat tüüpi digitaalsed multimeetrid on elektriliselt blokeeritud, on nende avatud vooluahela pinge ja lühisepinge vaid mõni kümnendik mikroamprist. Teine näide on digitaalne multimeeter, mida pakub digitaalne multimeeter. Käigu {{0}} avatud vooluahela pinge on umbes 0,54 V ja mida kõrgem on käik, seda madalam on avatud ahela pinge. Näiteks 2M 2 käigu avatud vooluahela pinge on umbes 0,49 V. Mis puudutab lühisvoolu, siis 200 Q käik on umbes 0,6 mA ja mida kõrgem on käik, seda väiksem on lühisvool. Näiteks 2MΩ käigukasti lühisvool on vaid paar mikroamprit, 2000MΩ käigul aga vaid mõni kümnendik mikroamprist. Teine on see, et digitaalse multimeetri katsevool on väga väike. Kristalltrioodi päritakistust mõõtes on see suurem kui analoogmõõturi elektritakistuse mõõdetud väärtus (näiteks MF47F analoogmõõturi x 1k ploki vool on ca 1mA). Mitu korda, isegi kümneid, sadu kordi. Seetõttu ei sobi digitaalse multimeetriga transistori mõõta ja hinnata.
Transistori E-, B- ja C-pooluse hindamiseks on sobivam kasutada dioodiplokki PN-siirdetakistuse mõõtmiseks, kuna dioodiploki avatud ahela pinge ja lühisvool on suhteliselt suured. Võttes näiteks VC9808 plussi, siis dioodiploki avatud ahela pinge on ca 2,7V, lühisvool ca lmA. Mõõtmisel ühendage NPN-toru jaoks punane testjuhe selle "B" poolusega ja must testjuhe vastavalt kahe teise tihvtiga. Kahest mõõdetud numbrist on veidi kõrgema väärtusega poolus "E" poolus, madalama väärtusega poolus "C". Kui see on PNP-toru, on must testjuhe ühendatud selle "B" poolusega ja saadud kõrged andmed on "E" poolus ja madalad andmed on "C" poolus. Näiteks: ühendage C9018 keskmine tihvt (B-poolus) punase testjuhtmega ja ühendage ülejäänud kaks tihvti vastavalt musta testjuhtmega ning saate kaks väärtust 726 ja 734. Nende hulgas on 726 testväärtus BC vahel ja 734 on BE vaheline testiväärtus.
Lühidalt öeldes kasutab digitaalne multimeeter pärast tegelikku mõõtmistesti dioodiplokki erinevate transistoride E-, B- ja C-pooluste testimiseks ning on saavutanud täpsed testitulemused.
