+86-18822802390

Miks on elektronmikroskoobi eraldusvõime nii palju kõrgem kui optilise mikroskoobi oma?

Nov 06, 2022

Miks on elektronmikroskoobi eraldusvõime nii palju kõrgem kui optilise mikroskoobi oma?


Kuna elektronmikroskoobid kasutavad elektronkiirte ja optilised mikroskoobid nähtavat valgust ning elektronkiirte lainepikkused on lühemad kui nähtava valguse omad, on elektronmikroskoobidel palju suurem eraldusvõime kui optilistel mikroskoopidel.


Mikroskoobi eraldusvõime on seotud proovi läbiva elektronkiire koonuse nurga ja lainepikkusega.


Nähtava valguse lainepikkus on umbes 300 kuni 700 nanomeetrit, samas kui elektronkiire lainepikkus on seotud kiirenduspingega. Laine-osakeste duaalsuse põhimõtte kohaselt on suure kiirusega elektronide lainepikkus lühem kui nähtaval valgusel ja mikroskoobi eraldusvõimet piirab kasutatav lainepikkus, seega on elektronmikroskoopide lahutusvõime (0,2 nanomeetrit). palju kõrgem kui optilistel mikroskoopidel. (200 nm).


Elektronmikroskoobi tehnoloogia rakendamine põhineb optilise mikroskoobi baasil. Optilise mikroskoobi eraldusvõime on {{0}},2 μm ja ülekandeelektronmikroskoobi eraldusvõime on 0,2 nm. korda.


Kuigi elektronmikroskoobi eraldusvõime on palju suurem kui optilisel mikroskoobil, on sellel mõned puudused:


1. Elektronmikroskoobis peab proovi vaatlema vaakumis, seega ei saa jälgida elavaid proove. Tehnoloogia arenedes hakkavad keskkonnaskaneerivad elektronmikroskoobid järk-järgult teostama elusproovide otsest jälgimist;


2. Proovi töötlemisel võib see tekitada struktuure, mida proovil ei ole, mis raskendab kujutise hilisemat analüüsimist;


3. Tugeva elektronide hajumise võime tõttu on see kalduvus sekundaarsele difraktsioonile jne;


4. Kuna tegemist on ruumilise objekti kahemõõtmelise tasapinnalise projektsiooni kujutisega, ei ole pilt mõnikord ainulaadne;


5. Kuna transmissioonelektronmikroskoopiaga saab vaadelda vaid väga õhukesi proove, siis on võimalik, et materjali pinna struktuur erineb materjali sisemuse struktuurist;


6. Üliõhukeste proovide (alla 100 nanomeetri) puhul on proovi ettevalmistamise protsess keeruline ja raske ning proovi ettevalmistamine on kahjustatud;


7. Elektronkiir võib proovi kokkupõrkel ja kuumutamisel hävitada;


8. Elektronmikroskoobi ostmise ja hoolduse hind on suhteliselt kõrge.


4. Larger LCD digital microscope

Küsi pakkumist