Miks on laserkonfokaalse mikroskoopia pildikvaliteet parem?
Laserkonfokaalse mikroskoopia põhimõte seisneb selles, et LED-valgusallika kiirgav valguskiir läbib mitme auguga ketta ja objektiivi ning on fokuseeritud proovi pinnale. Seejärel peegeldub kiir läbi proovi pinna tagasi mõõtesüsteemi. MPD tihvtide uuesti läbimisel säilitab peegeldunud valgus ainult fokuseeritud valguspunkte. Lõpuks peegeldub valgusvihk jaoturi abil ja pildistatakse kaamerale.
Miks on laserkonfokaalse mikroskoopia pildikvaliteet parem?
1. Laserkonfokaalne mikroskoop kasutab laserskaneerimise tehnoloogiat. Võrreldes traditsiooniliste mikroskoopide laia spektriga valgusallikaga suudab laserskaneerimise tehnoloogia täpselt määrata proovi teatud piirkonnad ja keskenduda neile, parandades seeläbi pildistamise eraldusvõimet ja täpsust. Samal ajal võib laserskaneerimise tehnoloogia kõrvaldada proovi hajumise ja taustasignaalid, parandades seeläbi kujutise kontrastsust. Samal ajal muudab laseri monokromaatilisus pildistamise selgemaks.
2. Laserkonfokaalsel mikroskoopial on suurem optiline ava (mikroskoobi võime võtta vastu proovi kiirgavat valgust) ja suure numbrilise avaga objektiiv (läätse suurendus), mis muudab pildistamise selgemaks ja detailsemaks.
3. Laserkonfokaalne mikroskoop kasutab tuvastuselemendina ülitundlikku fotokordisti toru, mis võib olla väga tundlik nõrkade fluorestsentssignaalide suhtes. Samuti saab see kõrvaldada taustmüra, vähendades ergastusvahemikku ja kasutades optilist viilutamist** Väga tundlike fotodiooddetektoritega varustatud laserkonfokaalne mikroskoop suudab kiiresti ja täpselt tuvastada valgussignaale ja muuta need elektrilisteks signaalideks.
Erinevalt traditsioonilisest optilisest vaatlusest suudavad fotodiooddetektorid tuvastada üksikuid footoneid, muutes pildistamise tundlikumaks ja täpsemaks. See kõrge tundlikkusega detektor suudab saada selgeid pilte ka vähese valguse intensiivsusega tingimustes.
Laserkonfokaalne mikroskoop VT6000 põhineb nööpaugupunktiga valgusallika konjugeeritud konfokaalsel põhimõttel, pikisuunalise eraldusvõimega nanomeetri tasemel. Koos kiire skaneerimismooduliga on professionaalsel analüüsitarkvaral mitme ala ja automaatsed mõõtmisfunktsioonid, mis võimaldavad saavutada kiiret ja automatiseeritud mõõtmist. Samuti pakub see pinnakvaliteedi iseloomustamiseks mitmeid kontuuri suuruse parameetreid, nagu kõrgus, laius ja nurk.
