Miks erineb elektronmikroskoobi eraldusvõime valgusmikroskoobist nii palju?
Kuna elektronmikroskoobid kasutavad elektronkiirte ja optilised mikroskoobid nähtavat valgust ning elektronkiirte lainepikkus on lühem kui nähtaval valgusel, on elektronmikroskoopide lahutusvõime palju suurem kui optilistel mikroskoopidel.
Mikroskoobi eraldusvõime on seotud proovi läbiva elektronkiire langeva koonuse nurga ja lainepikkusega.
Nähtava valguse lainepikkus on umbes {{0}} nanomeetrit, samas kui elektronkiirte lainepikkus on seotud kiirenduspingega. Laine-osakeste duaalsuse põhimõtte kohaselt on suure kiirusega elektronide lainepikkus lühem kui nähtaval valgusel ja mikroskoobi eraldusvõimet piirab selle kasutatav lainepikkus, seega elektronmikroskoobi eraldusvõime (0,2 nanomeetrit) on palju kõrgem kui optilise mikroskoobi oma (200 nm).
Elektronmikroskoobi tehnoloogia rakendamine põhineb optilisel mikroskoobil. Optilise mikroskoobi eraldusvõime on {{0}},2 μm ja ülekandeelektronmikroskoobi lahutusvõime on 0,2 nm. See tähendab, et ülekandeelektronmikroskoopi suurendatakse optilise mikroskoobi põhjal 1000 võrra. korda.
Kuigi elektronmikroskoobi eraldusvõime on palju suurem kui valgusmikroskoobil, on sellel mõned puudused:
1. Elektronmikroskoobis tuleb proove vaadelda vaakumis, seega ei saa jälgida elavaid proove. Tehnoloogia arenedes hakkab keskkonda skaneeriv elektronmikroskoop järk-järgult realiseerima elusproovide otsest jälgimist;
2. Proovi töötlemisel võib see tekitada struktuuri, mida proovil ei ole, mis raskendab kujutise hilisemat analüüsimist;
3. Tänu tugevale elektronide hajumise võimele on sekundaarne difraktsioon kerge tekkima;
4. Kuna tegemist on ruumilise objekti kahemõõtmelise tasapinnalise projektsioonipildiga, ei ole pilt mõnikord ainulaadne;
5. Kuna transmissioonelektronmikroskoobiga saab vaadelda vaid väga õhukesi proove, siis on võimalik, et materjali pinna struktuur erineb materjali sees olevast struktuurist;
6. Üliõhukeste proovide (alla 100 nanomeetri) puhul on proovi ettevalmistamise protsess keeruline ja raske ning proovi ettevalmistamine on kahjustatud;
7. Elektronkiir võib proovi kokkupõrke ja kuumutamise tõttu hävitada;
8. Elektronmikroskoopide ostu- ja hooldushinnad on suhteliselt kõrged.
