Millised on katte paksuse mõõdiku eelised katte paksuse mõõturi ees?
Kattekihi paksuse mõõtur on äsja välja töötatud uus toode, võrreldes eelmise katte paksuse mõõturiga on järgmised peamised eelised:
1. kiire mõõtmiskiirus: 6 korda kiirem mõõtmiskiirus kui teistel TT-seeriatel;
2. kõrge täpsus: toode on lihtne pärast kooli 0 täpsus võib ulatuda 1-2% on praegu turul A-taseme toodete saavutamiseks, selle täpsus on palju kõrgem kui aeg ja muud sarnased kodumaised . Selle täpsus on palju suurem kui sarnastel Hiina toodetel, näiteks ajastul, ja selle täpsus on ka suurem kui imporditud toodetel, nagu EPK;
3. Stabiilsus: mõõdetud väärtuse stabiilsus ja kasutamise stabiilsus on parem kui importtoodetel;
4. funktsioon, andmed, toiming, kuva kõik hiina keeles;
Materjali pinna kaitse, kattekihi moodustumise kaunistamine, nagu katted, plaadistus, kattekiht, pasta kiht, kile keemiline genereerimine jne, vastavates riikides ja rahvusvahelistes standardites, mida nimetatakse kattekihiks (katteks). Katte paksuse mõõtmine on muutunud töötleva tööstuse oluliseks osaks, pinnatehniline kvaliteedi testimine on toode vajalike vahendite kõrgemate kvaliteedistandardite saavutamiseks. Toote rahvusvahelistumiseks, Hiina ekspordikaupade ja välismaiste projektide muutmiseks on katte paksus selge nõue.
Katte paksuse mõõtmise meetodid hõlmavad peamiselt: kiillõike meetodit, valguse katkemise meetodit, elektrolüüsi meetodit, paksuse erinevuse mõõtmise meetodit, kaalumismeetodit, röntgenfluorestsentsi meetodit, kiirte tagasihajumise meetodit, mahtuvusmeetodit, magnetmõõtmismeetodit ja pöörisvoolu mõõtmist. meetod. Neist esimesed viis meetodit on kadudega, tülikad ja aeglased mõõtmisvahendid, mida kasutatakse enamasti proovide võtmise kontrollimisel.
Röntgen- ja kiirmeetodid on mittekontaktsed mittepurustavad mõõtmised, kuid seadmed on keerulised ja kallid ning mõõtmisulatus on väike. Radioaktiivse allika tõttu peab kasutaja järgima kiirguskaitsenorme. Röntgenimeetodil saab mõõta väga õhukest plaatimist, topeltplaatimist, legeeritud katmist. -ray meetod sobib plaadistuse ja substraadi aatomarvuga, mis on suurem kui 3 plaadistuse mõõtmiseks. Mahtuvusmeetodit kasutatakse ainult õhukeste juhtivate isolatsioonikatete paksuse mõõtmiseks.
