Millised on elektronmikroskoobi eelised ja puudused?
Eelised:
1. Eraldusvõime on kõrge. Optilise mikroskoobi lahutusvõime on 0,2 μm ja ülekandeelektronmikroskoobil 0,2 nm, mis tähendab, et optilise mikroskoobi alusel suurendatakse ülekandeelektronmikroskoobi 1000 korda.
2. Transmissioonelektronmikroskoopi kasutatakse sageli materjali peenstruktuuri jälgimiseks, mida tavalise mikroskoobiga ei saa eristada; Skaneerivat elektronmikroskoopi (SEM) kasutatakse peamiselt tahke pinna morfoloogia jälgimiseks ja seda saab kombineerida ka röntgendifraktomeetri või elektronenergia spektromeetriga, et moodustada elektronmikrosond materjali koostise analüüsiks. Isekiirgavate elektronide pinna uurimine emissioonielektronmikroskoobiga.
Puudused:
1. Elektronmikroskoobis peab proovi vaatlema vaakumis, mistõttu on võimatu jälgida elavat proovi. Tehnoloogia arenguga hakkab keskkonda skaneeriv elektronmikroskoop järk-järgult realiseerima elavate proovide otsest jälgimist;
2. Proovi töötlemisel võib tekkida struktuur, mida valimil ei ole, mis raskendab kujutise hilisemat analüüsimist;
3. Tugeva elektronide hajumise võime tõttu on sekundaarne difraktsioon kerge tekkima.
4. Kuna tegemist on ruumilise objekti kahemõõtmelise tasapinnalise projektsioonipildiga, ei ole pilt mõnikord ainulaadne;
5. Kuna ülekandeelektronmikroskoobiga saab vaadelda ainult väga õhukesi proove, on võimalik, et materjali pinnal olev struktuur erineb materjali sees olevast struktuurist;
6, üliõhukesed proovid (alla 100 nanomeetri), proovi ettevalmistamise protsess on keeruline ja raske ning proovi ettevalmistamine on kahjustatud;
7. Elektronkiir võib proovi kokkupõrke ja kuumenemise tõttu kahjustada;
8. Lisaks on elektronmikroskoobi ostmise ja hooldamise hind suhteliselt kõrge.
