Metallograafilise analüüsi instrumentidega kaasas oleva mikroskoobi ülekandetüüp
Metallograafilised analüütilised instrumendid, mis toetavad mikroskoobi valgustust, jagunevad üldiselt kahte kategooriasse "edastuv valgustus" ja "langev valgustus". Esimene kehtib läbipaistvate või poolläbipaistvate uuritavate objektide kohta, valdav enamus bioloogilisi mikroskoope kuulub seda tüüpi valgustusse; viimane kehtib mitteläbipaistvate uuritavate objektide, ülalt tuleva valgusallika kohta, tuntud ka kui "" peegeldav valgustus ". Kasutatakse peamiselt metallurgilise mikroskoopia või fluorestsentsmikroskoopia puhul.
1. Läbilaskev valgustus
Bioloogilist mikroskoopi kasutatakse läbipaistvate proovide vaatlemiseks, valgustamiseks on vaja läbilaskvat valgust. Valgustusi on kahte tüüpi
(1) Kriitiline valgustus (Critical Illumination) Valgusallikas läbib kondensaatori peegli ja pildistatakse objekti tasapinnal. Kui valgusenergia kadu eirata, on valgusallika kujutise heledus sama, mis valgusallikal endal, seetõttu on see meetod samaväärne valgusallika paigutamisega objekti tasapinnale. Ilmselgelt tuleb kriitilise valgustuse korral, kui valgusallika pinna heledus ei ole ühtlane või näitab ilmselgelt väikeseid struktuure, nagu hõõgniidid jne, siis mikroskoobi vaatlusefekti tuleb tõsiselt mõjutada, mis on kriitilise valgustuse puuduseks. . Abinõu on asetada valgusallika ette opalestseeruvad ja soojust neelavad filtrid, et valgustus muutuks ühtlasemaks ning välditaks valgusallika pikaajalist kiiritamist ja uuritava objekti kahjustamist. Valgustus läbiva valgusega, objektiiviläätse avanurga pildivihk, valgusvihu avanurk määratakse prožektori peegli abil nagu ruudukujuline, et objektiiviläätse numbrilist ava täielikult ära kasutada, peaks prožektori peegel olema sama, mis objektiivil või veidi suurem numbriline ava.
(2) Cora valgustus Objekti pinna ebaühtlase valgustuse puuduse kriitilise valgustuse korral saab Cora valgustusega kõrvaldada. Valgusallikas 1 ja teravustamisläätses 5 lisafookusläätse 2. lisamise vahel nähtav, kuna mitte otse valgusallikale, vaid valgusallikat valgustab ühtlaselt lisafookuslääts 2 (tuntud ka kui Cora peegel). ) pildistamine proovis 6, nii et objektiivi (proovi) vaateväli, et saada ühtlane valgustus.
2. Langev valgustus
Läbipaistmatu objekti, näiteks metallist abrasiivketta vaatlemisel läbi metallurgilise mikroskoobi valgustatakse sageli küljelt või ülalt. Sel ajal ei ole klaasi pinnal vaadeldava objekti pind kaetud, proovi kujutis tekib peegeldunud või hajutatud valguse objektiivi sisenemisel. Nagu on näidatud joonisel 7.
3. Tumeda vaateväljaga osakeste vaatlemise valgustusmeetod
Supermikroskoopiliste plasmade vaatlemiseks saab kasutada tumeda välja meetodit. Niinimetatud supermikroskoopilised plasmad on need pisikesed plasmad, mis on väiksemad kui mikroskoobi eraldusvõime piir. Tumevälja valgustuse põhimõte seisneb selles, et põhivalgustuskiired ei satu objektiivi objektiivi, vaid ainult osakeste poolt hajutatud kiired on võimelised objektiivi kujutisele sisenema. Selle tulemusel on eredate osakeste pilt tumedal taustal ja vaateväli on tume, kuid kontrastsus on hea, mis võimaldab parandada eraldusvõimet.
Tumevälja valgustus jaguneb ühe- ja kahesuunaliseks.
(1) Ühesuunaline tumevälja valgustus Diagramm ühesuunalise tumeda välja valgustuse kohta. Jooniselt on näha, et illuminaatorist 2 tulev valgus, läbipaistmatu näidise 1 poolt pärast peegeldumist, põhivalgus ei satu objektiivi 3, objektiivi on peamiselt osakeste või peenosa ebatasasuste tõttu. hajutatud valgus. Ilmselgelt on see ühesuunaline tumeda välja valgustus, osakeste olemasolu ja liikumine tõhus vaatlemiseks, kuid mitte efektiivne objektide detailide taasesitamiseks, see tähendab, et tegemist on "moonutuse" nähtusega.
(2) Kahesuunaline tumeda välja valgustus Kahesuunaline tumeda välja valgustus võib kõrvaldada ühesuunalise moonutuse puudused. Tavalise kolmeläätselise kondensaatori ees, rõngasdiafragma paigutusega, saate saavutada kahesuunalise tumeda välja valgustuse. Kondensaatori viimase tüki ja kandeklaasi vahel on vedelikku sukeldatud ning katteklaasi ja objektiivi vahel on kuiv. Seega metallograafilised analüütilised instrumendid toetavad mikroskoobi edastamist ja langevat valgustust, läbi kondensaatori läätse rõngaskiire, katteklaasi täielikus peegelduses ja ei pääse objektiivi objektiivi, moodustades vooluringi, nagu on näidatud joonisel. Objektiivi läätsesse siseneb ainult proovil olevate osakeste poolt hajutatud valgus, moodustades kahesuunalise tumeda välja valgustuse. Muude seotud instrumentide, nagu rauaanalüsaator, süsiniku- ja ränianalüsaator jne, puhul võtke ühendust Tong Pu tehnilise osakonnaga.
