Metallograafilise analüüsi instrumentide mikroskoopide edastamine ja epi-valgustus
Metallograafilise analüüsi instrumentide mikroskoopide valgustusmeetodid jagunevad üldiselt kahte kategooriasse: "läbilaskev valgustus" ja "episkoopiline valgustus". Esimene sobib läbipaistvate või poolläbipaistvate objektide jaoks ja enamik bioloogilisi mikroskoope kuulub seda tüüpi valgustusmeetodisse; viimane sobib läbipaistmatute objektide jaoks ja valgusallikas tuleb ülalt, tuntud ka kui "peegeldav valgustus". Peamised kasutusalad metallograafilise mikroskoopia või fluorestsentsmikroskoopiaga.
1. Läbivalgustus
Bioloogilisi mikroskoope kasutatakse enamasti läbipaistvate proovide vaatlemiseks ja neid tuleb valgustada läbiva valgusega. On kaks valgustusmeetodit
(1) Kriitiline valgustus Pärast seda, kui valgusallikas läbib kondensaatorit, kuvatakse see objekti tasapinnal, nagu on näidatud joonisel 5. Kui valgusenergia kadu eirata, on valgusallika kujutise heledus sama, mis valgusel. allikas ise, seega on see meetod samaväärne valgusallika paigutamisega objekti tasapinnale. Ilmselgelt mõjutab kriitilises valguses, kui valgusallika pinna heledus ei ole ühtlane või näitab ilmselgelt väikeseid struktuure, nagu hõõgniidid jne, mikroskoobi vaatlusefekti, mis on selle puuduseks. kriitiline valgustus. Abinõu on piimvalgete ja soojust neelavate värvifiltrite asetamine valgusallika ette, et muuta valgustus ühtlasemaks ja vältida kontrollitava objekti kahjustamist valgusallika pikaajalisest kiiritusest. Läbiva valgusega valgustamisel määrab objektiiviläätse pildikiire avanurga kondensaatorpeegli ruudukujulise valgusvihu avanurk. Objektiivi objektiivi numbrilise ava täielikuks ärakasutamiseks peaks kondensaatorläätsel olema sama või veidi suurem numbriline ava kui objektiivil.
(2) Koola valgustus Koola valgustuses saab kõrvaldada objekti pinna ebaühtlase valgustuse puuduse kriitilise valgustuse korral. Lisakondensaatorlääts 2 lisatakse valgusallika 1 ja kondensaatorläätse 5 vahele, nagu on näidatud joonisel fig. 6 . Näha on, et objektiiviläätse vaateväli (näidis) on ühtlaselt valgustatud, kuna valgusallikat otseselt ei valgustata, kuid valgusallika poolt ühtlaselt valgustatud lisakondensaator 2 (nimetatakse ka Kolari peegliks) on pildistatud valgusallika poolt ühtlaselt valgustatud. näidis 6 .
2. epi-valgustus
Läbipaistmatute objektide vaatlemisel, näiteks metallist lihvimisketaste vaatlemisel läbi metallograafilise mikroskoobi, valgustatakse seda sageli küljelt või ülalt. Sel ajal ei ole vaadeldava objekti pinnal katteklaasi ja proovi kujutis tekib objektiivi läätse siseneva peegeldunud või hajutatud valguse toimel.
3. Valgustusmeetod osakeste vaatlemiseks tumevälja abil
Ultramikroskoopilisi osakesi saab vaadelda tumeda välja meetodil. Niinimetatud ultramikroskoopilised osakesed tähistavad neid pisikesi osakesi, mis on väiksemad kui mikroskoobi eraldusvõime piir. Tumevälja valgustuse põhimõte on: ärge laske põhivalgustuse valgusel objektiivi objektiivi siseneda ja ainult osakeste hajutatud valgus pääseb pildistamiseks objektiivi objektiivi. Seetõttu on eredate osakeste kujutis antud tumedal taustal. Kuigi vaatevälja taust on tume, on kontrast (kontrast) väga hea, mis võib eraldusvõimet parandada.
Tumevälja valgustuse saab jagada ühesuunaliseks ja kahesuunaliseks
(1) Ühesuunaline tumevälja valgustus Joonis 8 on ühesuunalise tumeda välja valgustuse skemaatiline diagramm. Jooniselt on näha, et pärast seda, kui illuminaatori 2 kiirgav valgus peegeldub läbipaistmatule näidiselehele 1, ei satu põhivalgus objektiivi 3 ning objektiivi sisenev valgus on peamiselt osakeste poolt hajutatud või ebaühtlane. üksikasjad. Ilmselgelt on see ühesuunaline tumevälja valgustus efektiivne osakeste olemasolu ja liikumise jälgimiseks, kuid see ei ole efektiivne objektide detailide taasesitamiseks, see tähendab, et tegemist on "moonutuse" nähtusega.
(2) Kahesuunaline tumeda välja valgustus Kahesuunaline pimeda välja valgustus võib kõrvaldada ühesuunalisest moonutusest tingitud defekti. Tavalise kolmeläätselise kondensaatori ette asetage rõngakujuline diafragma, nagu on näidatud joonisel 9, et realiseerida kahesuunaline tumevälja valgustus. Vedelik on sukeldatud kondensaatori viimase tüki ja objektiiviklaasi vahele, samal ajal kui katteklaasi ja objektiivi vaheline ruum on kuiv. Seetõttu on metallograafilise analüüsi instrument varustatud mikroskoobi ülekande- ja epi-tüüpi valgustusega ning kondensaatorit läbiv rõngakujuline kiir peegeldub täielikult katteklaasis ega pääse objektiivi, moodustades joonisel näidatud vooluringi. . Objektiivi läätsesse siseneb ainult proovil olevate osakeste poolt hajutatud valgus, moodustades kahesuunalise tumevälja valgustuse. Muude seotud instrumentide (nt sularaua analüsaatori, süsinikräni analüsaatori jne) puhul võtke ühendust Tongpu tehnoloogiaosakonnaga.
