Dioodi ettepoole suunatud takistuse mõõtmise probleem multimeetriga
Diood ettepoole suunatud takistuse mõõtmise probleemi osas multimeetriga mõõdab multimeeter diood ettepoole takistust. Mis on erinevate oomiliste käikudega mõõdetud erinevate takistusväärtuste põhjus? Mõõteahela sisemine takistus on erinev, kui mõõtmiseks valitakse erinevad käigud.
Dioodi ettepoole suunatud takistuse mõõtmise probleem multimeetriga
Multimeeter mõõdab dioodi edasist takistust ja erinevate oomidega mõõdetud takistuse väärtused on erinevad.
Diood on mittelineaarne komponent. Selle volt-amper iseloomulikust kõverast võib näha, et dioodi üle rakendatav pinge ei ole proportsionaalne komponendi kaudu voolava vooluga, st selle volt-amper omadus ei ole sirgjoon, vaid kõver.
Dioodi ettepoole suunatud takistuse mõõtmisel multimeetri ohm käiguga, kuigi oomi käigu sisemised toitepinged R×1 kuni R×1k on samad, on mõõteahela sisemine takistus erinev, kui mõõtmiseks valitakse erinevad käigud.
Seetõttu on komponentides rakendatavad pinged erinevad ja tulemuseks on see, et uuritavad komponendid peegeldavad erinevaid takistusväärtusi.
