Erinevus metallograafilise mikroskoobi ja skaneeriva elektronmikroskoobi vahel
Metallograafiline mikroskoop on optiline mikroskoop, mis kasutab metallmaterjali proovide pinna (sulami koostise) vaatlemiseks väljuvat valgustit. See on uus tehnoloogiatoode, mis on loodud ja arendatud mikroskoobitehnoloogia, fotoelektrilise muundamise tehnoloogia ja elektroonilise arvutipilditöötlustehnoloogia integreerimise teel. Sellega saab mugavalt jälgida metallograafilise analüüsi pilte elektroonilistes arvutites ning seejärel analüüsida ja klassifitseerida metallograafilise analüüsi pilte, samuti pilte väljastada ja kopeerida.
Skaneeriv elektronmikroskoopia on uut tüüpi optoelektrooniliste seadmete seadmed. Sellel on lihtsa proovi ettevalmistamise, reguleeritava suurenduse vahemiku, piltide kõrge ekraanieraldusvõime ja suure teravussügavuse omadused. Aastakümneid on skaneerivat elektronmikroskoopiat laialdaselt kasutatud sellistes tööstusharudes nagu molekulaarbioloogia, meditsiin ja metallurgia, mis juhib erinevate seotud kursuste arengusuundi.
Kahe optilise mikroskoobi tüübi vahel on märkimisväärne erinevus, millel on järgmised põhiaspektid:
1, Valgusallikas on erinev: metallograafiline mikroskoop kasutab valgusallikana nähtavat valgust, skaneeriva elektronmikroskoobi puhul aga pildistamisel valgusallikana ioonkiirt.
2, Põhiprintsiibid on erinevad: metallograafilises mikroskoopias kasutatakse pildistamiseks geomeetrilisi optilisi kujutise printsiipe, skaneerivas elektronmikroskoopias kasutatakse kõrge efektiivsusega ioonkiirega negatiivset elektroni proovi pinnal, et stimuleerida erinevaid füüsikalisi andmesignaale proovi pinnal ja seejärel kasutab erinevaid andmesignaali detektoreid füüsiliste andmesignaalide vastuvõtmiseks ja nende teisendamiseks pildiinfo sisuks.
3, ekraani eraldusvõime: valguse häirete ja ülekandeefektide tõttu on metallograafilise mikroskoobi ekraani eraldusvõime piiratud vahemikus 0.2-0.5um. Ioonkiirte valgusallikana kasutamise tõttu võib skaneeriva elektronmikroskoopia abil saavutada ekraani eraldusvõime vahemikus 1-3 nm. Seetõttu kuulub metallograafilise mikroskoopia mehhanismivaatlus μm taseme analüüsi, skaneeriva elektronmikroskoopia mehhanismivaatlus aga nanotaseme analüüsi.
4, teravussügavus: üldiselt on metallograafilise mikroskoobi teravussügavus vahemikus 2-3um, seega on proovi pinna sileduse taseme nõue väga kõrge. Seetõttu on kogu proovi ettevalmistamise protsess suhteliselt keeruline. Skaneeriva elektronmikroskoopia teravussügavus võib ulatuda paljudeni.
Metallograafiline mikroskoop on optiline mikroskoop, mis kasutab metallmaterjali proovide pinna (sulami koostise) vaatlemiseks väljuvat valgustit. See on uus tehnoloogiatoode, mis on loodud ja arendatud mikroskoobitehnoloogia, fotoelektrilise muundamise tehnoloogia ja elektroonilise arvutipilditöötlustehnoloogia integreerimise teel. Sellega saab mugavalt jälgida metallograafilise analüüsi pilte elektroonilistes arvutites ning seejärel analüüsida ja klassifitseerida metallograafilise analüüsi pilte, samuti pilte väljastada ja kopeerida.
Skaneeriv elektronmikroskoopia on uut tüüpi optoelektrooniliste seadmete seadmed. Sellel on lihtsa proovi ettevalmistamise, reguleeritava suurenduse vahemiku, piltide kõrge ekraanieraldusvõime ja suure teravussügavuse omadused. Aastakümneid on skaneerivat elektronmikroskoopiat laialdaselt kasutatud sellistes tööstusharudes nagu molekulaarbioloogia, meditsiin ja metallurgia, mis juhib erinevate seotud kursuste arengusuundi.
