Metallurgilise mikroskoobi objektiivläätsede spetsiaalne klassifikatsioon
Metallograafilise mikroskoobi eriobjektiivide klassifikatsiooni spetsiaalne objektiiv on konstrueeritud ja toodetud spetsiaalselt teatud spetsiifilise vaatlusefekti saavutamiseks, peamiselt on neid järgmist tüüpi:
1, parandusrõnga objektiiviga (Correctioncollarobjective): objektiivi keskel on rõngasse kinnitatud reguleerimisrõngas, reguleerimisrõnga pööramisel saab reguleerida objektiivi läätse sees objektiivirühma vahelise kauguse vahel, nii et kattekihi paksuse järgi korrigeerimine ei ole erinevusest põhjustatud standardne katvus. Skaala reguleerimisrõngas võib olla alates 0.11-.023, selle numbriga on tähistatud ka objektiiviläätse kest, mis näitab, et katteklaasi saab korrigeerida alates 0.{101} {5}}.23mm paksus vea vahel.
2, sillerdava diafragma objektiiviga (Irisdiaphragmobjective): sillerdava diafragmaga varustatud objektiiviläätse silindri ülaosas saab ka välimist külge pöörata reguleeritava rõngaga, keerates saab reguleerida diafragma ava suurust, see struktuur objektiiv on ** õlikümblusobjektiiv, see on mikroskoopilise uurimise ajal tumeda vaatevälja roll, vaatevälja taust ei ole piisavalt tume, mille tulemuseks on mikroskoopilise uurimise kvaliteedi vähenemine. Seekord diafragma suuruse reguleerimiseks
3, faasikontrastsuse objektiiv (Phasecontrastobjective): seda eesmärki kasutatakse faasikontrastsuse mikroskoopia jaoks spetsiaalseks objektiiviks, mida iseloomustab objektiivi fookustasapind, mis on varustatud faasiplaadiga.
4, katteobjektiiv puudub (Nocoverobjective): osa uuritavatest objektidest ei saa ülaosa katteklaasiga lisada, nii et mikroskoopilisel uurimisel tuleks kasutada ilma katteobjektiivita, vastasel juhul väheneb pildikvaliteet oluliselt, eriti suure suurendusega mikroskoopia puhul on see ilmsem. See objektiiv on sageli graveeritud kestale NC, samal ajal katteklaasi paksuse positsioonis ilma sõna 0.17, kuid graveeritud "0".
5, pika töökaugusega objektiiv: selle objektiivi fookuskaugus on tavalisest objektiivist suurem, see on loodud vastama vedelale materjalile (kõrgtemperatuuriline metallograafia), vedelkristallidele, koekultuurile, suspensioonile ja muudele mikroskoopia jaoks mõeldud materjalidele.
