Uued ülieraldusvõimega tehnikad, nagu stimuleeritud emissiooni kahanemise mikroskoopia, fotoaktiveeritud lokaliseerimismikroskoopia ja stohhastiline optiline rekonstruktsioonmikroskoopia, on vähendanud eraldusvõimet 100–200 nm veelgi madalamal.
Nanomeetri eraldusvõimega piesoelektrilised objektiivi positsioneerijad sobivad nendeks rakendusteks ideaalselt. Mikroskoobi ja proovihoidja joondamine nõuab täpseid ja kiireid liigutusi. Kõrge eraldusvõimega piesoelektrilisel keraamilisel ajamil põhinev piesoelektrilise objektiivi positsioneerija võib pakkuda ainulaadset ülitäpset tehnilist tuge.
P72 seeria piesoelektrilise objektiivi positsioneerija on spetsiaalselt loodud mikroskoobirakenduste jaoks. See on konstrueeritud mittehüstereetilise painduva hinge paralleelse juhtmehhanismiga. See on hõõrdumiseta ja sellel on äärmiselt kõrge eraldusvõime, väike kompensatsioonisumma ja ülikõrge teravustamise stabiilsus. See sobib väga hästi selliste rakenduste jaoks nagu proovi reguleerimine, kiire joondamine ja kiirte jälgimine.
Omadused: Z-telje liikumine, käik 100 μm, eraldusvõime 2,5 nm, koormuseta harmooniline sagedus 350 Hz, tühikäigu sammuaeg 3 ms.
P72-seeria piesoelektriliste objektiivide positsioneerijad on väikese suurusega ja kompaktse struktuuriga ning suudavad saavutada 100 μm nihkekäigu. See on ühendatud läätse ülaosaga keermeadapteri kaudu ja niiti saab suvaliselt valida. Seda saab kohandada mitmesuguste standardobjektiividega, nagu Olympus, Zeiss, Nikon ja Leica, ning seda saab kohandada.
Koormatuseta resonantssagedus võib ulatuda 350 Hz-ni ja see võib kanda 200 g koormust kiireks täppisliikumiseks, mida on laialdaselt kasutatud optilises skaneerimises, konfokaalses mikroskoopias ja muudes valdkondades.
