Metallograafilise mikroskoobi spetsiaalne objektiivläätsede klassifikatsioon
Spetsiaalsed objektiiviläätsed on spetsiaalselt projekteeritud ja toodetud teatud spetsiifiliste vaatlusefektide saavutamiseks, peamiselt järgmiselt:
1. Paranduskrae objektiiv: objektiivi keskel on rõngasse kinnitatud reguleerimisrõngas. Kui reguleerimisrõngast keerata, saab objektiiviläätses objektiivigruppide vahelist kaugust reguleerida, korrigeerides sellega katteklaasi ebastandardsest paksusest tingitud katvuse erinevust. Reguleerimisrõnga skaala võib olla alates 0.11--.023 ja see number on märgitud ka objektiivi kestale, mis näitab, et viga paksuse vahel katteklaasi alates 0.11-0.23mm saab parandada.
2. (Irisdiafragmoobjektiiv: Objektiivi läätse silindri ülaosas on iirise diafragma ja reguleerimisrõngas, mida saab ka väljapoole pöörata. Pööramisel saab reguleerida diafragma ava. Selle struktuuri objektiiv on parim õlikümblusobjektiiv. Selle funktsioon on see, et pimedas väljas mikroskoobiga kontrollimisel ei ole vaatevälja taust piisavalt tume, mille tulemuseks on mikroskoobi kontrollimise kvaliteedi langus. Sel ajal reguleerige objektiivi suurust ava tausta tumedamaks muutmiseks, kontrollitava objekti heledamaks muutmiseks ja mikroskoobi kontrollimise efekti suurendamiseks.
3. Faaskontrastobjektiiv: see objektiiv on spetsiaalne objektiiv, mida kasutatakse faasikontrastmikroskoopias ja selle omadus on see, et objektiivi tagumisele fookustasandile on paigaldatud faasiplaat.
4. Katteta objektiiv: Mõnda kontrollitavat objekti ei saa katteklaasiga katta. Sel viisil ei tohiks mikroskoobi kontrollimisel kasutada katteobjektiivi, vastasel juhul langeb pildikvaliteet oluliselt, eriti suure suurendusega mikroskoobi kontrollimisel. Selle objektiivi kest on sageli tähistatud NC-ga ja katteklaasi paksuse asukoha kohta pole sõna 0.17, vaid märgistus "0".
5. Pika töökaugusega objektiiv: selle objektiivi fookuskaugus on suurem kui tavalise objektiiviläätse fookuskaugus ja see on ette nähtud vedelate materjalide (kõrgtemperatuuri metallograafia), vedelkristallide, koekultuuride, suspensiooni ja suspensiooni kontrollimiseks mikroskoobiga. muud materjalid.
