Infrapuna termomeetri hooldus- ja hooldusmeetodid
Infrapunatermomeetri peamised jõudlusnäitajad hõlmavad spektraalset reaktsiooni, reaktsiooniaega, korratavust ja emissiooni. Fikseeritud infrapunatermomeetreid kasutatakse klaasi- ja keraamikatööstuses, paberi- ja pakenditööstuses, erinevates ahjude temperatuuri mõõtmise rakendustes ning keemiatööstuses instrumentide ja arvestite temperatuuri mõõtmiseks, tuvastades seeläbi instrumentide tööoleku ja tagades nende normaalse töö.
On mitmeid tegureid, mis võivad võrgutermomeetrit kahjustada:
Esimene tüüp: niisked tegurid. Üldiselt põhjustavad infrapunatermomeetrid sellised tegurid nagu niiskus, vihmavesi, kaste jne. Niiskuse poolt tekkiv kaste on peamine välisõhu niiskust põhjustav tegur. Kaste kahju on suurem kui vihmaveel, kuna see nakkub materjalidega kauem, põhjustades tugevama niiskuse imendumise. Kui puidukatte pindmine vananemiskiht eemaldatakse vihmaveepesuga, siis jääb vanandamata sisekiht päikesevalguse kätte, mille tulemuseks on edasine vananemine. Niiskest keskkonnast põhjustatud komposiitmaterjalide kahjustusmehhanismi on hästi uuritud infrapunatermomeetrite simulatsioonikatses. Võttes näiteks niiskuse difusiooni süsinikkiust epoksüvaiklaminaatidesse, illustreerib käesolev artikkel komposiitmaterjalide vananemismehhanismi niiskes atmosfääris.
Teine tüüp: valgustegurid. Infrapunatermomeetrite erinevate toodete struktuurne koostis mõjutab ka valgustuse intensiivsust. Näiteks need vastupidavad materjalid, nagu plast, katted ja nii edasi, ei vanane valguse käes tugevalt. Seega peame analüüsima, milline on tootevarustuse materjali koostis.
Kolmas tüüp: Kõrge temperatuuritegur: kui ümbritsev temperatuur kõrge temperatuuri tõttu tõuseb, suurendab see valguse intensiivsust ja kahjustuste astet. Temperatuuri ja valguse vahel puudub otsene keemiline reaktsioon, kuid nende vahel on peen seos. Seega on programmeeritavate infrapuna termomeetritoodete testimisel oluline mõista täpset temperatuuri kasutusvahemikku.
Need kolm tegurit on toote varustusele avaldatava mõju seisukohast üliolulised ja ükski neist võib termomeetri eluiga kiiresti lühendada.
Infrapunatermomeetrite uuringud on näidanud, et veest põhjustatud epoksüvaigu mooduli langus on pöörduv. Kui väliskeskkond muutub ja vesi välja hajub, võib vaigu kile maht peaaegu taastada algse väärtuse. Paljude veeimavusprotsesside puhul on vee poolt põhjustatud omaduste muutused aga pöördumatud. Pöördumatud muutused toovad kaasa materjali füüsikaliste ja mehaaniliste omaduste olulise vähenemise. Samal ajal saab infrapunatermomeetreid programmeerida nii, et see simuleerib niisket atmosfäärikeskkonda, et tuvastada materjali vananemisvastased omadused. Seega peame võrgutermomeetri kasutamisel rohkem tähelepanu pöörama ka detailidele, et selliseid instrumente paremini kasutada.
