Toitekadu mõõtmine lülitustoiteallikate puhul digitaalse ostsilloskoobi abil
Kuna paljudes tööstusharudes kasvab nõudlus lülitusrežiimi toiteallikate järele, on järgmise põlvkonna lülitusrežiimi toiteallikate võimsuskadude mõõtmine ja analüüsimine muutunud ülioluliseks. Selles rakendusvaldkonnas aitavad TDS5000 või TDS7000 seeria digitaalsed fluorestsentsostsilloskoobid koos TDSPWR2 võimsuse mõõtmise tarkvaraga hõlpsasti täita vajalikke mõõtmis- ja analüüsiülesandeid.
Uus lülitusrežiimi toiteallika (SMPS) arhitektuur nõuab suure andmeedastuskiiruse ja GHz tasemega protsessoritele suure voolu ja madala pinge andmist, mis lisab toiteseadmete projekteerijatele immateriaalset uut survet tõhususe, võimsustiheduse, töökindluse ja kulude osas. Nende nõuete projekteerimisel arvessevõtmiseks võtsid disainerid kasutusele uued arhitektuurid, nagu sünkroonse alaldi tehnoloogia, aktiivvõimsuse filtreerimise korrigeerimine ja suurenenud lülitussagedus. Need tehnoloogiad toovad kaasa ka suuremaid väljakutseid, nagu suuremad võimsuskaod, soojuse hajumine ja lülitiseadmete liigne EMI/EMC.
Üleminekul "väljas" (juhtiv) olekusse "sees" (väljalülitamine) kogeb toiteallikas suurt võimsuskadu. Lülitiseadmete võimsuskadu "sees" või "väljas" olekus on suhteliselt väike, kuna seadet läbiv vool või seadmel olev pinge on väike. Induktiivpoolid ja trafod suudavad isoleerida väljundpinge ja tasandada koormusvoolu. Induktiivpoolid ja trafod on samuti vastuvõtlikud lülitussageduse mõjule, mis põhjustab võimsuse hajumist ja aeg-ajalt küllastumisest tingitud rikkeid.
Tegelikes töökeskkondades on toiteseadmetel pidevad dünaamilised koormuse muutused. Joonisel 5 kujutatud olukord näitab, et võimsuskadu muundamisel muutub ka koormuse muutumisel. Seega on mõõtmise oluline samm kogu koormuse muutuse sündmuse jäädvustamine ja lülitikadude tuvastamine, et tagada, et toiteseade ei oleks nende tegurite tõttu ülekoormatud.
Tänapäeval kasutab enamik disainereid sügava mäluga (2 MB) ja suure diskreetimissagedusega ostsilloskoope, et jäädvustada sündmusi vajaliku eraldusvõimega. Kuid sellega kaasnev väljakutse on see, kuidas analüüsida iga lüliti kadupunktide tekitatud suurt andmemahtu, kuna see asetab lülitiseadmele suure pinge.
