Mille poolest valgusmikroskoopia erineb elektronmikroskoopiast
Elektronmikroskoobi ja optilise mikroskoobi erinevus seisneb peamiselt järgmises neljas punktis:
Esiteks on valgusallikas erinev
Optilised mikroskoobid kasutavad valgusallikana nähtavat valgust, elektronmikroskoobid kasutavad valgusallikana elektronkiirt.
Teiseks on pildistamise põhimõte erinev
Optiline mikroskoop, mis kasutab pildistamiseks geomeetrilist optilist kujutise põhimõtet, elektronmikroskoop, mis kasutab proovi pinna suure energiaga elektronkiirega pommitamist, proovi pinnal mitmesuguste füüsiliste signaalide ergastamist ja seejärel erinevate signaalidetektorite kasutamist füüsikaliste signaalide vastuvõtmiseks. signaalid, mis on teisendatud pilditeabeks.
Kolmandaks on eraldusvõime erinev
Optiline mikroskoop valguse interferentsi ja difraktsiooni tõttu saab eraldusvõimet piirata ainult 0.2-0,5 um. Elektronmikroskoop, kuna valgusallikana kasutatakse elektronkiirt, võib eraldusvõime ulatuda vahemikus 1-3nm, seega optilise mikroskoobi koevaatlus kuulub mikronitaseme analüüsi, elektronmikroskoobi koevaatlus nanomeetri taseme analüüs.
Neljandaks on teravussügavus erinev
Üldiselt on optilise mikroskoobi teravussügavus vahemikus 2-3um, seega on proovi pinna sileduse nõuded väga kõrged, mistõttu proovi valmistamise protsess on suhteliselt keeruline. Elektronmikroskoobi elektronmikroskoobi teravussügavus võib ulatuda mõne millimeetrini, seega pole proovi pinna sileduse geomeetria nõuet, proovi ettevalmistamine on suhteliselt lihtne. Mõned proovid nõuavad vähe või üldse mitte ettevalmistamist, kuigi kehamikroskoopidel on ka suhteliselt suur teravussügavus.
