Kuidas konfokaalne mikroskoopia loob kolmemõõtmelise pildi
Konfokaalne mikroskoopia on oluline mikroskoopiatehnika, mis pakub kõrge eraldusvõimega ja kolmemõõtmelise pildistamise võimalusi ning millel on suur tähtsus sellistes valdkondades nagu materjaliteadus.
3D-pildistamise põhimõtted
LED-valgusallika kiirgav valguskiir fokusseeritakse proovi pinnale pärast mitme auguga ketta ja objektiiviläätse läbimist. Seejärel peegeldub kiir läbi proovi pinna tagasi mõõtesüsteemi. MPD tihvtide uuesti läbimisel säilitab peegeldunud valgus ainult fokuseeritud valguspunkte. Lõpuks peegeldub valgusvihk jaoturi abil ja pildistatakse kaamerale. Proovi skaneerimisel saab saada erineva sügavusega pildiinfot.
Konfokaalne mikroskoopia võib pakkuda kõrge eraldusvõimega ja kolmemõõtmelise pildistamise võimalusi. Materjali tootmise valdkonnas saab mõõta pinna füüsikalist morfoloogiat ja teha mikro-nano skaalal kolmemõõtmelist morfoloogia analüüsi, näiteks 3D pinnamorfoloogiat, 2D sügavusmorfoloogiat, kontuuri (sügavus, laius, kõverus, nurk), pinna karedus jne.
Samades objektiivse suurenduse tingimustes kuvab konfokaalne mikroskoopia selgemaid ja peenemaid kujutise morfoloogia üksikasju ning suurema külgeraldusvõimega. Oskab tuvastada mikro- ja nanotasandil karedaid kontuure, võimaldades hõlpsaks vaatlemiseks pakkuda värvilisi tõetruu värvi pilte.
Konfokaalse mikroskoopia roll
Konfokaalne mikroskoop on tuvastusinstrument, mida kasutatakse erinevate täppisseadmete ja materjalipindade mikro- ja nanotaseme mõõtmiseks. Tegemist on optilise tuvastusseadmega, mis kasutab põhimõttena konfokaalset tehnoloogiat kombineerituna Z-telje täppis-skaneerimise moodulite, 3D-modelleerimisalgoritmidega jne, et teostada seadme pinnal kontaktivaba skaneerimist ja luua pinna 3D-kujutis. Seadme pinna 3D kujutist töödeldakse ja analüüsitakse läbi süsteemitarkvara ning saadakse seadme pinnakvaliteeti kajastavad 2D ja 3D parameetrid, saavutades seeläbi seadme pinnamorfoloogia 3D mõõtmise.
