Viis levinumat mikroskoobi vaatlusmeetodit
1. Heleda välja meetod
Otse proovist peegelduva valguse vaatlemise meetod. Illuminaatorist tulev valgus langeb näidisele läbi vertikaalselt joondatud objektiivi ja otsest näidist peegeldunud valgust vaadeldakse läbi objektiivi.
2. Tumevälja meetod
Jälgige proovide kuivatamise meetodeid, mis hõlmavad hajutatud valgust. Valgustusvalgus langeb proovile kaldu läbi objektiiviläätse perifeeria ja vaadeldakse proovi kuiva valgust, samal ajal kui vaadeldakse hajutatud valgust.
Ideaalne väikeste kriimustuste või pragude tuvastamiseks proovidel ja proovide, näiteks vahvlite peegelpindade kontrollimiseks.
3. Polariseeritud valguse meetod
See on mikroskoopiline vaatlustehnika, mis kasutab polariseeritud valgust, mis on moodustatud kahe värvifiltri komplekti (tuvastuspolarisaator ja polarisaator). Need polarisatsiooniteljed on alati üksteisega risti. Mõned proovid näitavad teravat kontrasti kahe filtri vahel. Või väljendada värvi kahemurdumisomaduste ja orientatsiooni alusel (st tsinkstruktuuride poleeritud proovid). Kui analüsaator on sisestatud okulaari ees olevasse vaatlusvalgusesse, on polarisaator vertikaalse valgusti ees olevasse valgusteesse.
See sobib metallograafilise struktuuri (st kõrgtugeva malmi grafiidi kasvurežiimi), mineraalide ja vedelkristallide (LCD) ja pooljuhtmaterjalide vaatlemiseks.
4. Diferentsiaalse interferentsi kontrasti meetod
See on mikroskoopiline vaatlustehnika, mis muudab kontrasti kõrguse stereoskoopiliseks või kolmemõõtmeliseks kujutiseks, kasutades ereda välja meetodit, mida ereda välja meetodiga ei pruugita jälgida. Valgustusvalgus muudetakse diferentsiaalinterferentsi kontrastprismast kaheks hajutatud tuleks. Kahe hajutatud valguse põhjustatud proovi kõrguse erinevus tekitab väikese erinevuse valguse teekonnas ja valguse tee erinevusest saab kontrasti prisma ja diferentsiaalinterferomeetriat kasutava analüsaatori vaheline kontrast.
Tundlikke proove kasutatakse uuesti väga varieeruvate kromaatiliste aberratsioonide suurendamiseks.
See sobib ülitäpse kõrguse erinevusega proovide testimiseks, sealhulgas metallograafilised struktuurid, mineraalid, magnetpead, kõvaketta pinnad ja vahvliga rafineeritud pinnad.
5. Fluorestsentsmeetod
Seda tehnikat kasutatakse fluorestseeruvate proovide puhul.
See sobib vahvlite saastumise, valgustundliku vaigu jääkide tuvastamiseks ja pragude tuvastamiseks fluorestsentsmeetodil.
