Skaneerivate sondimikroskoopide omadused
Skaneeriva sondi mikroskoopia on kolmas mikroskoop aine struktuuri jälgimiseks aatomi skaalal pärast väljaioonmikroskoopiat ja kõrge eraldusvõimega elektronmikroskoopiat. Võttes näiteks skaneeriva tunnelmikroskoobi (STM), on selle külgmine eraldusvõime 0,1~0,2 nm ja vertikaalne sügavuslahutus on 0,01 nm. Selline eraldusvõime võib selgelt jälgida üksikuid aatomeid või molekule, mis on jaotunud proovi pinnal. Samal ajal saab skaneeriva sondi mikroskoopiga läbi viia ka vaatlusuuringuid õhus, muudes gaasides või vedelas keskkonnas.
Skaneerivatel sondimikroskoopidel on aatomi eraldusvõime, aatomi transpordi ja nano-mikrotöötluse omadused. Erinevate skaneerivate mikroskoopide detailide erinevate tööpõhimõtete tõttu on aga nende saadud tulemustes kajastuv teave proovi pinnal väga erinev. Skaneeriv tunnelmikroskoopia mõõdab proovi pinnal olevate elektronjaamade jaotusinfot, millel on aatomitaseme eraldusvõime, kuid mis ei suuda siiski saada proovi tegelikku struktuuri. Aatommikroskoop tuvastab aatomitevahelise interaktsiooni informatsiooni, seega on võimalik saada proovipinna aatomijaotuse paigutusinfo ehk proovi tegelik struktuur. Kuid teisest küljest ei saa aatomjõumikroskoop mõõta elektroonilist olekuteavet, mida saab teooriaga võrrelda, seega on neil kahel oma eelised ja puudused.
