Digitaalse salvestusostsilloskoobi mooduli omadused
Digitaalne salvestusostsilloskoobi moodul on C-suuruses kahe piluga sõnumipõhine kahe kanaliga digitaalne ostsilloskoop (DSO), mille ribalaius on 500 MHz ja diskreetimissagedus 1 GSa/s, mis sobib enamikuks elektroonilisteks mõõtmisteks. Sees kasutatakse multiprotsessorit, et muuta ekraan kiiremaks ja anda analoogostsilloskoobile sarnanev tunne. Igal kanalil on pikk salvestussügavus 32KB. Võrreldes üldise DSO-mooduliga, mille salvestussügavus on ainult 1–2 KB, suudab see kiiremini ja paremini lahendada rohkem testimisprobleeme.
Digitaalse salvestusostsilloskoobi mooduli omadused
● Lairibaühendus, kõrge diskreetimissagedus, sügav salvestusruum
●Tipu tuvastamine, tõrkepäästik
● Impulsi parameetrite automaatne test
● 0-40 kraadi töötemperatuuri vahemik
Digitaalse salvestusostsilloskoobi mooduli parameetrid
Acquisition system maximum sampling rate 1GSa/s Maximum equivalent sampling rate 250GSa/s Vertical resolution 8bit record length 64Kpts/ch (single channel 64Kpts) Vertical system bandwidth (-3dB) 50Ω input: DC～500MHz (10mV/div～1V/ div) DC～250MHz (≤5mV/div) 1MΩ input: DC～250MHz (≤500mV/div) DC～200MHz (>500 mV/div) Reaalajas ribalaius DC-250MHz tõusuaeg 50 Ω sisend:<700ps (10mV/div～1V /div)＜1.2ns(≤5mV/div)1MΩ input:＜1.2ns(≤500mV/div)＜1.75ns(＞500mV/div) Overshoot 50Ω input:＜5%(10mV/div～1V/div) <8% (≤5mV/div) 1MΩ input: <8% Number of channels 2+1 Deflection factor 1mV/div～1V/div, 1, 2, 5 steps (50W input) 1mV/div～5V/div, 1 , 2, 5 steps (1MW input) △V measurement error ± (1.25% full scale + 2% reading + 1LSB + 0.5mV) offset range ±1V (2mV～100mV/div) ±10V (200mV～1V/div) ) ±100V (2V～5V/div) horizontal system time base range 200ps/div～5s/div, 1, 2, 5 step time base accuracy <50ppm delay range pre-trigger: not less than 10 divisions post-trigger: maximum 50s △t measurement error ± (50ps + 0.01% × △t reading + 0.2% × screen width) time resolution 4ps reference point position can be set to the left, center or right of the display trigger system trigger sensitivity 0.5div (DC ~ 20MHz ) 1div (20MHz ~ 100MHz) 2div (100MHz ~ 500MHz) external trigger sensitivity <50mV (DC ~ 500MHz) trigger level range ± 8 divisions trigger jitter < 200ps (peak-peak) trigger mode edge trigger, logic combination (pattern) trigger , glitch trigger trigger source optional ch1 ~ ch2, EXTtrig, EXT_TTL, VXI trigger bus glitch trigger minimum glitch detection width is 8ns glitch width resolution is 2ns narrowest trigger pulse 1ns functional characteristics automatic scale requirement signal: duty cycle > 5% , amplitude>10mVpp, sagedus vahemikus 50Hz ~ 300MHz ja suhteliselt stabiilne signaalikursori mõõtmine. Kahepingekursoreid ja kaheajalisi kursoreid saab kasutada käsitsi mõõtmiseks või automaatseks jälgimismõõtmiseks. Automaatne impulsi parameetri mõõtmise sagedus, periood, impulsi kestus, tõusuaeg, langusaeg, impulsi amplituud, positiivse impulsi laius, negatiivse impulsi laius, eelvõte, ületamine, töötsükkel, RMS-pinge üldomadused Seadme tüüp teade Põhiseadme aadressi seadistusrežiim dünaamiline seade, Loogilise aadressi automaatse konfigureerimise seadme adresseerimise konfiguratsiooniregistri andmete laius D16 , A16 aadressiruum. FDC andmelaius D32, A32 aadressiruum MODID-liin toetab trigger-võimekust TTL-päästikut, ECL-käivituse plug and play-funktsiooni vastavalt VXIplug&play spetsifikatsioonidele, sobib Win98 platvormile. Instrumentide draiverid ja pehmed paneelid on plug and play ühilduvad. Elektritarve on alla 150 VA. Töötemperatuur on 0 kraadi ~ 40 kraadi. Maht on 62 (L) × 250 (K) × 340 (P) mm. Kaal on umbes 2,1 kg.
Digitaalse mälu ostsilloskoobi mooduli rakendus
Sellel on ajaakna suumimise ja liikumise jälgimise võimalus. Lainekuju panoraami vaatlemisel võib see lainekuju üksikasjade vaatlemiseks või mõõtmiseks kasutada hilinenud skaneerimise "akent". Glitch triggering võimaldab käivitada positiivseid või negatiivseid tõrkeid ning võib käivitada impulsse, mis on suuremad või väiksemad kui määratud laius. Tipptaseme tuvastamise funktsioon aitab teil väga madalatel signaalisagedustel (madal pühkimiskiirus) tuvastada maksimaalseid häireid, mis on suuremad kui 1 ns. See sobib väga hästi erinevate kiirete elektroonikaseadmete arendamiseks, tootmiseks, hoolduseks, mõõtmiseks ja muuks kasutuseks.
