Sügav fookus STED- ja sukelmikroskoopide jaoks
Kõrgete NA-objektide sügav fookus tekitab väiksema PSF-i (point spread function), mis on kõrge eraldusvõimega mikroskoopiasüsteemide jaoks ülioluline. Paljudes teistes mikroskoobisüsteemides, näiteks sukelmikroskoobides, kasutatakse sukeldusvedeliku eraldamiseks proovist katteklaasi. See võib fookustasandil polüesterstaapelkiudu moonutada. Näitame, et asümmeetriline polüesterstaapelkiud pikeneb katteklaasi taga veelgi. Lisaks tarbib STED (stimuleeritud emissioonide kadumise) mikroskoopia, mida kasutatakse laialdaselt kümnete nanomeetrite eraldusvõimega, toroidaalset polüesterstaapelkiudu. Järgides P.Töröki ja PRT Monro pakutud lähenemist, modelleerime Gauss-Raggleri kiire sügavfookuse. Näitab, kuidas luua ringikujulist polüesterstaapelkiudu.
Sügav teravustamine kõrge NA sukeldumismikroskoopiaga
VirtualLab Fusionis saab katteklaasi liidese mõju PSF-ile otse analüüsida. Katteklaasi taga olevat fookusmoonutust demonstreeritakse ja analüüsitakse täielikult vektoril.
Gaussi-Laguerre'i kiirte fokuseerimine STED-mikroskoobis
Näidati, et kõrge järgu Gaussi-Laguerre'i kiirte teravustamine annab rõngakujulise polüesterstaapelkiudu. Rõngakujulise polüesterstaapelkiu suurus sõltub muude muutujate hulgas ka tala konkreetsest järjestusest.
