Millised tegurid piiravad aatomjõumikroskoopide lahutusvõimet võrreldes traditsiooniliste optiliste mikroskoopide ja elektronmikroskoopidega?
Traditsiooniliste optiliste mikroskoopide lahutusvõime on piiratud valguse difraktsioonipiiriga ja selle minimaalne eralduskaugus on pool valguse lainepikkusest. Elektronmikroskoobi lahutusvõimet piirab ka difraktsioonipiir ja selle minimaalne lahutusvõime on pool elektron de Broglie lainepikkusest, nii et elektronmikroskoobiga on võimalik saavutada suurem lahutusvõime kui traditsioonilisel optilisel mikroskoobil.
Aatomjõumikroskoobi lahutusvõime sõltub peamiselt: sondi otsa suurusest; mikrokonsooli elastsuse koefitsient, mida madalam on elastsuse koefitsient, seda tundlikum on aatomjõumikroskoop; konsooli pikkuse ja laservalguse pikkuse suhe; detektori PSD tundlikkus punktiasendi suhtes. Teatud eraldusvõimega pildi puhul, mida väiksem on skaneerimisulatus, seda peenem on pinna topograafia.
