Metallograafiliste mikroskoopide rakendused erinevates tööstusharudes
See tuletati esmakordselt metallograafiast. Selle peamine eesmärk on jälgida professionaalse instrumendi metallograafilist struktuuri. See on mikroskoop, mida kasutatakse spetsiaalselt läbipaistmatute objektide, näiteks metallide ja mineraalide metallograafilise struktuuri jälgimiseks. Neid läbipaistmatuid objekte ei saa tavalistes läbiva valguse mikroskoopides jälgida, seega peamine erinevus metallograafia ja tavamikroskoobi vahel seisneb selles, et esimene kasutab peegeldunud valgust, teine aga läbiva valguse valgustamiseks.
Metallograafilisel mikroskoobil on hea stabiilsus, selge kujutis, kõrge eraldusvõime, suur ja tasane vaateväli. See ei saa teha mitte ainult okulaaril mikroskoopilisi vaatlusi, vaid ka jälgida reaalajas dünaamilisi pilte arvuti (digikaamera) ekraanil ning redigeerida, salvestada ja printida vajalikke pilte. Seda kasutatakse peamiselt riistvara-, viilutamis- ja IC-komponentides. , LCD/LED ja muud väljad.
Kuna metallograafiliste mikroskoopide jaoks on olemas viit tüüpi läätsi: EPI ereda välja fluorestsents; BD heleväli; SLWD ülipikk töökaugus; ELWD suurendatud töökaugus; ja need, millel on parandusrõngad. Riistvaratööstuses on mõned riistvaraosad, mis peegeldavad tõsiselt, nii et saate valida vaatlemiseks BD heleda ja tumeda välja objektiivi. Teise näitena võib LCD-tööstuses juhtivate osakeste vaatlemisel ja mõõtmisel metallograafilise mikroskoobi varustada ka DIC-ga, mis võib muuta objekti kolmemõõtmelisemaks. Kuna see on polariseeritud, moodustab kahe värvifiltri komplekt polariseeritud mikroskoopilise vaatlustehnoloogia. Vastavalt kaksikmurde jõudlusele muudetakse valguse tee suunda suunaliselt. Muidugi saab polariseeritud valgust kasutada ainult DIC-iga ja see on üksi mõttetu. Metallurgilisi mikroskoope kasutatakse väikeste mõõtmete (nt IC-komponentide ja metallograafiliste sektsioonide) mõõtmiseks ja analüüsimiseks. Mõõtmiseks saab kasutada intelligentset tarkvara Iview-DIMS, mis on ülitäpne ja vähendab tõhusalt inimlikke mõõtmisvigu. Lihtne õppida ja kasutada, seda saab hõlpsasti mõõta ja analüüsida punkte, jooni, kaare, poolmeridiaane, otsemeridiaane, nurki ja muid seotud mõõtmeid, hõlpsalt teha mõõtmispilte ja kohandada erinevaid katsearuandeid.
