Elektronmikroskoobi eelised
Skaneeriv ülekandeelektronmikroskoopia töötati välja 1950. aastatel. Valguse asemel kasutab TEM fokuseeritud elektronkiirt, mis saadetakse kujutise moodustamiseks läbi proovi. Transmissioonelektronmikroskoopia eelis valgusmikroskoopia ees on see, et see suudab tekitada suuremat suurendust, mida optilised mikroskoobid ei suuda detaile paljastada.
Kuidas mikroskoop töötab
Transmissioonelektronmikroskoobid töötavad sarnaselt valgusmikroskoobidega, kuid valguse või footonite asemel kasutavad nad elektronkiirt. Elektronpüss on nagu valgusallikas optilises mikroskoobis, elektronide ja funktsioonide allikas. Negatiivselt laetud elektronid tõmbavad külge ja rõngas kannab positiivset laengut. Magnetlääts fokusseerib elektronide voogu, kui need liiguvad läbi mikroskoobi sees oleva vaakumi. Need fokusseeritud elektronid tabavad proovi lavale ja põrkuvad proovist maha, tekitades protsessi käigus röntgenikiirgust. Tagastatud või hajutatud elektronid ja ka röntgenikiired muudetakse signaaliks, mis edastab pildi teleriekraanile, et teadlane saaks näidisvaateid vaadata.
Transmissioonielektronmikroskoopia eelised
Õhukeste lõikude näidised optilise mikroskoopia ja ülekandeelektronmikroskoopia jaoks. Huvitav on see, et see suurendab proove rohkem kui valgusmikroskoop. Võimalik on suurendus 10,000 korda või rohkem, võimaldades teadlastel näha väga väikeseid instruktoreid. rakud, nagu mitokondrid ja organellid, on selgelt nähtavad. TEM-proovide kristallstruktuur tagab suurepärase eraldusvõime ja võib isegi paljastada aatomite paigutuse proovis.
Transmissioonielektronmikroskoopia piirangud
Transmissioonelektronmikroskoopia jaoks on vaja, et proov oleks vaakumkambris. Selle nõude tõttu saab mikroskoopi kasutada elusate isendite, näiteks algloomade vaatlemiseks. Mõnda õrna proovi võib ka elektronkiir kahjustada ja nende kaitsmiseks tuleb need esmalt keemiliselt värvida või katta. Selline töötlemine hävitab mõnikord proovi.
Tavalised mikroskoobid kasutavad pildi suurendamiseks fokusseeritud valgust, kuid nende sisseehitatud füüsiline piirang on umbes 1000-kordne suurendus. See piir saavutati 1930. aastatel, kuid teadlased loodavad suurendada oma suurenduspotentsiaali, võimaldades neil uurida sisemisi töörakke ja muid mikroskoopilisi struktuure.
1931. aastal töötasid Max Noel ja Ernstruska välja esimese ülekandeelektronmikroskoobi. Mikroskoobi jaoks vajalike elektrooniliste mõõteriistade keerukuse tõttu ei olnud teadlastel esimene kaubanduslik ülekandeelektronmikroskoop enne -1960s.
