DIC põhimõtete ja rakenduste lühianalüüs metallograafilistes mikroskoopides
Kui kõik tegelevad metallograafilise mikroskoobi vaatlusega, on olemas vaatlusmeetod, mida nimetatakse diferentsiaalinterferentsi kontrastmeetodiks, mida nimetatakse ka DIC-vaatlusmeetodiks. See on suhteliselt arenenud meetod, mida praegu kasutatakse ainult välismaiste kaubamärkide seadmetes. Konkreetne põhimõte on järgmine: tutvustage seda.
Metallograafilise mikroskoobi jaoks vajalikud komponendid: polarisaator, analüsaator, diferentsiaalinterferentsi DIC-kiip (jääkivist).
Polarisaatorid ja analüsaatorid on metallograafiliste proovide ortogonaalse polariseeritud valguse vaatlemisel asendamatud põhilised tugikomponendid. Need on kokku pandud ereda/tumeda välja valgustuskomplekti ja on samuti asendamatud komponendid diferentsiaalinterferentsi kontrastimeetodi jaoks. Metallograafilise mikroskoobi polarisaator muudab valgusallika lineaarselt polariseeritud valguseks, mis vibreerib ida-lääne suunas; analüsaator võib segada koherentset valgust, mis vastab interferentsi tingimustele.
Metallograafilise mikroskoobi diferentsiaalse interferentsi DIC-plaat on diferentsiaalhäirete kontrastimeetodi põhikomponent. Selle paksus muutub veidi, põhjustades väikeseid muutusi optilises teekonnas või optilise tee erinevuses ja tekitab ilmse interferentsi kontrastiefekti;
Diferentsiaalhäirete DIC-lehtede rakendused metallograafilistes mikroskoopides:
Jälgige eseme pinnal olevaid osakesi, pragusid, auke ja punni, mis paistavad reljeefselt ning saate teha õigeid hinnanguid.
Mõne töödeldava detaili pinnavajadus on vähenenud. Kuni poleerimine ei vaja korrosiooni, on näha martensiidi faasimuutuse reljeef.
Jälgige mõningaid pinnaosakeste muutusi, näiteks juhtivate ioonide vaatlust jne.
Ülaltoodud selgituse kaudu usun, et kõigil on teatav arusaam diferentsiaalhäirete DIC-lehtede põhimõttest ja rakendamisest metallograafilistes mikroskoopides.
